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IEEE 1149.4-2010 IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus

【国外标准】 IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE 1149.4-2010
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标准简介

适用范围：

This standard defines a mixed-signal test bus architecture that provides the means of control and access to both analog and digital test signals such that the testability structure for digital circuits described in IEEE Std 1149.1-2001 has been extended effectively to provide similar facilities for mixed-signal circuits. In addition to testing of interconnections in the conventional sense of IEEE Std 1149.1-2001, the mixed-signal test bus defined by this standard also provides the means for… read more parametric testing and, optionally, the means to access internal test structures. The standard does not mandate implementation details of the test circuitry, although examples of conformant implementations are given for illustration. Further, the standard develops extensions to Boundary-Scan Description Language (BSDL) as a means of describing key aspects of the implementation of this standard within a particular component. At present, the extensions to BSDL defined by this standard specifically omit the description of any and all analog parameters defined by the standard. read less

基本信息

标准号：
IEEE 1149.4-2010
标准名称：
IEEE Standard for a Mixed-Signal Test Bus
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
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采用标准：

出版信息

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