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IEEE/IEC 62528-2007 IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

【国外标准】 IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits

本网站发布时间： 2025-10-27

IEEE/IEC 62528-2007
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标准简介

适用范围：

IEEE Std 1500 has developed a standard design-for-testability method for integrated circuits (ICs) containing embedded nonmergeable cores. This method is independent of the underlying functionality of the IC or its individual embedded cores. The method creates the necessary requirements for the test of such ICs, while allowing for ease of interoperability of cores that may have originated from different sources.

基本信息

标准号：
IEEE/IEC 62528-2007
标准名称：
IEC 62528 Ed. 1 (IEEE Std 1500(TM)-2005): Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
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引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
130 页
字数：
开本：

其他信息

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起草单位：
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提出部门：
发布部门：

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