【团体标准】磁随机存储芯片数据保持时间测试方法

本网站发布时间： 2023-03-24

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标准简介

本文件规定了磁随机存储芯片数据保持时间测试方法的测试原理、测试环境、测试设备、测试程序等。本文件适用于磁随机存储芯片的数据保持时间测试和磁随机存储芯片的数据保持时间验证。

标准号：
T/CIE 134-2022
标准名称：
磁随机存储芯片数据保持时间测试方法
英文名称：
Test methods for data retention time of magnetic random-access memory chips
标准状态：
现行
发布日期：
2022-08-10
实施日期：
2022-08-10
出版语种：
中文简体

起草人：
赵巍胜彭守仲李伟祥芦家琪李月婷雷娜曹凯华王昭昊聂天晓张博宇刘佳豪刘照春王戈飞刘宏喜赵桂林帅喆孙杰杰王超卢辉王亮郑宏超陆时进李鑫云曹安妮郭玮何帆程厚义杜寅昌
起草单位：
北京航空航天大学、致真存储(北京)科技有限公司、中国电子科技集团公司第五十八研究所、上海佑磁信息科技有限公司、北京时代民芯科技有限公司、深圳亘存科技有限责任公司、合肥致真精密设备有限公司
归口单位：
中国电子学会
提出部门：
中国电子学会
发布部门：
中国电子学会

【团体标准】 磁随机存储芯片数据保持时间测试方法