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IEEE 1450-1999 IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data

【国外标准】 IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data

本网站发布时间： 2025-06-05

IEEE 1450-1999
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标准简介

适用范围：

This standard defines a test description language that: a) Facilitates the transfer of large volumes of digital test vector data from CAE environments to automated test equipment (ATE) environments; b) Specifies pattern, format, and timing information sufficient to define the application of digital test vectors to a device under test (DUT); c) Supports the volume of test vector data generated from structured tests such as scan/automatic test pattern generation (ATPG), integral test techniques… read more such as built-in self test (BIST), and functional test specifications for IC designs and their assemblies, in a format optimized for application in ATE environments. read less

基本信息

标准号：
IEEE 1450-1999
标准名称：
IEEE Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

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出版信息

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