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IEEE C62.35-2010 IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components

【国外标准】 IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE C62.35-2010
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标准简介

适用范围：

This standard applies to two terminal or multiple terminal silicon avalanche breakdown diodes (ABD), which are one type of surge protective device component (SPDC). In this document, these devices will be called ABDs. ABDs limit (clamp) transient voltages and divert transient currents. This standard contains terms, symbols and definitions, and provides test methods for verifying ratings and measuring device characteristics. Service conditions and failure mode are also provided. This standard… read more may also apply to other silicon surge protective device components with similar V-I characteristics. read less

基本信息

标准号：
IEEE C62.35-2010
标准名称：
IEEE Standard Test Methods for Avalanche Junction Semiconductor Surge-Protective Device Components
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
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出版信息

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