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【国外标准】 Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan (IEC 47/2169/CD:2013)

本网站发布时间： 2025-06-05

DIN EN 60749-43
废止
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标准简介

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适用范围：

暂无

基本信息

标准号：
DIN EN 60749-43
标准名称：
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plan (IEC 47/2169/CD:2013)
英文名称：
标准状态：
废止
发布日期：
2001-10-01
实施日期：
出版语种：
英语

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