我的标准 开发票 会员介绍
购物车 400-168-0010

AI 搜
标准详细信息 去购物车结算

【团体标准】 半导体材料痕量杂质分析用超纯树脂器皿

本网站 发布时间： 2023-11-06
  • T/CNIA 0143-2022
  • 现行
  • 定价： 无文本 / 折扣价： 0 元
  • 在线阅读
开通会员免费在线看70000余条国内标准，赠送文本下载次数，单本最低仅合13.3元！还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权！   查看详情>>
标准简介标准简介

适用范围：

本文件规定了半导体材料痕量杂质（ng/kg～μg/kg级别）分析用超纯树脂器皿（以下简称器皿）的技术要求、试验方法、检验规则以及标志、包装、运输、贮存、随行文件及订货单内容。

基本信息

  • 标准号：

    T/CNIA 0143-2022

  • 标准名称：

    半导体材料痕量杂质分析用超纯树脂器皿

  • 英文名称：

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2022-02-28

  • 实施日期：

    2022-08-01

  • 出版语种：

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.20

  • 中标分类号：

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

  • 字数：

  • 开本：

其他信息

  • 起草人：

    鲁文锋、胡军波、刘晓霞、刘翠、王桃霞、邱艳梅

  • 起草单位：

    江苏赛夫特半导体材料检测技术有限公司、北京诚驿恒仪科技有限公司、苏州汉谱埃文材料科技有限公司、新疆大全新能源股份有限公司、集萃新材料研发有限公司、新特能源股份有限公司

  • 归口单位：

    中国有色金属工业协会

  • 提出部门：

    中国有色金属工业协会

  • 发布部门：

    中国有色金属工业协会
  • 其它标准
  • 推荐标准

经营许可证编号 京ICP备16035570号-4 版权所有 侵权必究