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【团体标准】 宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

本网站 发布时间： 2024-05-16
  • T/CNS 82-2022
  • 现行
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标准简介标准简介

适用范围：

本文件适用于评估宇航用SRAM的抗总剂量效应能力，抗辐射加固SRAM试验验证，SRAM总剂量效应研究。

基本信息

  • 标准号：

    T/CNS 82-2022

  • 标准名称：

    宇航用静态随机存储器总剂量辐射效应试验方法

  • 英文名称：

    Test method for total ionizing dose effect of static random-access memory in space application

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2022-12-16

  • 实施日期：

    2023-04-01

  • 出版语种：

标准分类号

  • 标准ICS号：

    27.120.01

  • 中标分类号：

    F70

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

  • 字数：

  • 开本：

其他信息

  • 起草人：

    郑齐文 崔江维 余学峰 郭旗 李豫东 王信 张丹 陆妩 何承发 崔帅 李鹏伟

  • 起草单位：

    中国科学院新疆理化技术研究所、中国科学院微小卫星创新研究院、中国航天科技集团有限公司第五研究院宇航物资保障事业部

  • 归口单位：

    中国核学会

  • 提出部门：

    中国核学会

  • 发布部门：

    中国核学会
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  • 国家标准计划

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