【地方标准】硅材料中杂质元素含量测定辉光放电质谱法

本网站发布时间： 2023-11-06

DB35/T 1146-2011
现行
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标准简介

适用范围：

本标准规定了测定硅材料中杂质元素含量的辉光放电质谱法（G D M S )所涉及的术语和定义、原理、试剂与材料、仪器设备、样品要求、样品要求、分析步骤、结果计算、允许偏差。本标准适用于纯度不高于99.99999%的硅材料中的杂质元素L i、Be、B、N a、M g、A 1、P、K、T h、U等元素的测定

基本信息

标准号：
DB35/T 1146-2011
标准名称：
硅材料中杂质元素含量测定辉光放电质谱法
英文名称：
标准状态：
现行
发布日期：
2011-04-10
实施日期：
2011-07-10
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
29.045
中标分类号：
H80

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
黄丰，吕佩文，陈伦泰，王永好，林璋，黄瑾
起草单位：
中国科学院福建物质结构研究所
归口单位：
中国科学院福建物质结构研究所
提出部门：
发布部门：
福建省质量技术监督局

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