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IEEE 1696-2013 IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Circuit Probes

【国外标准】 IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Circuit Probes

本网站发布时间： 2025-10-27

IEEE 1696-2013
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标准简介

适用范围：

This standard provides test method(s) and describes transfer (artifact) standards for characterizing electrical circuit probes and probes systems. The systems may include waveform acquisition hardware and software and signal/waveform analysis software. The probe includes the mechanism by which the circuit is contacted. This method and standard applies to all individual probes having one signal conductor and one ground conductor or two signal conductors, and having an input impedance greater… read more than the impedance of the circuit under test. read less

基本信息

标准号：
IEEE 1696-2013
标准名称：
IEEE Standard for Terminology and Test Methods for Circuit Probes
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
中标分类号：

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替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
65 页
字数：
开本：

其他信息

起草人：
起草单位：
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提出部门：
发布部门：

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