【国外标准】 IEEE Approved Draft Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for Semiconductor Design Environments

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE P1450.1
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标准简介

适用范围：

Define structures in STIL to support usage as semiconductor simulation stimulus; including: 1) mapping signal names to equivalent design references, 2) interface between Scan and Built-In Self-Test (BIST), and the logic simulation, 3) data types to represent unresolved states in a pattern, 4) parallel or asynchronous pattern execution on different design blocks, and 5) expression-based conditional execution of pattern constructs. Define structures in STIL to support the definition of test… read more patterns for sub-blocks of a design (i.e., embedded cores) such that these tests can be incorporated into a complete higher-level device test. Define structures in STIL to relate fail information from device testing environments back to original stimulus and design data elements. read less

基本信息

标准号：
IEEE P1450.1
标准名称：
IEEE Approved Draft Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for Semiconductor Design Environments
英文名称：
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