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IEEE 1450.2-2002 IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for DC Level Specification

【国外标准】 IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for DC Level Specification

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE 1450.2-2002
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标准简介

适用范围：

Define structures in STIL for specifying the DC conditions for a device under test. Examples of the DC conditions for device power supplies are: device power supply setup, power sequencing to the device, power supply limiting/clamping. Examples of the DC conditions for commonly used signal references are: VIL, VIH, VOL, VOH, IOL, IOH, VREF, VClampLow, VClampHi. Define structures in STIL such that the DC conditions may be specified either globally, by pattern burst, by pattern, or by vector.… read more Define structures in STIL to allow specification of alternate DC levels. Examples of commonly used alternate levels are: VIHH, VIPP, VILL. Define structures in STIL such that the DC levels and alternate levels can be selected within a period, much the same as timed format events. read less

基本信息

标准号：
IEEE 1450.2-2002
标准名称：
IEEE Standard for Extensions to Standard Test Interface Language (STIL) (IEEE Std 1450-1999) for DC Level Specification
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

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出版信息

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其他信息

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