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IEEE 660-1986 [ Withdrawn ] IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language

【国外标准】 IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language

本网站发布时间： 2025-04-28

IEEE 660-1986 [ Withdrawn ]
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标准简介

适用范围：

The scope of this standard is the definition of a descriptive language, including vocabulary and grammar, to describe functional test sequences (also called patterns) for memory devices.

基本信息

标准号：
IEEE 660-1986 [ Withdrawn ]
标准名称：
IEEE Standard for Semiconductor Memory Test Pattern Language
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
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采用标准：

出版信息

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