【团体标准】深紫外LED加速试验的寿命评估方法

本网站发布时间： 2026-04-16

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标准简介

本文件规定了封装的深紫外AlGaN基LED（200 nm～280 nm）辐射通量维持率的测试流程和条件选取，规定了深紫外LED加速老化试验的寿命评估方法。本文件提供了根据收集到的短期辐射通量维持率测试数据来推算辐射通量长期维持寿命的条件和寿命评估程序（准则）。

起草人：
郭伟玲、刘乃鑫、刘梓元、李晋闽、闫建昌、梁庭、徐圆圆、李本亮、王清娜、邓锡康、孙昕、吕天刚、吕鹤男、凃岐旭、朱昕、郭凯、任荣斌
起草单位：
北京工业大学、中国科学院半导体研究所、山西中科潞安紫外光电科技有限公司、中北大学、中关村半导体照明联合创新重点实验室（宽禁带半导体超越照明材料与技术全国重点实验室）、广东省东莞市质量监督检测中心、厦门光莆电子股份有限公司、鸿利智汇集团股份有限公司、广州市莱帝亚照明股份有限公司、东莞莱姆森科技建材有限公司、佛山市国星光电股份有限公司、广州市鸿利秉一光电科技有限公司
归口单位：
中关村半导体照明工程研发及产业联盟（国家半导体照明工程研发及产业联盟）
提出部门：
中关村半导体照明工程研发及产业联盟（国家半导体照明工程研发及产业联盟）
发布部门：
中关村半导体照明工程研发及产业联盟

【团体标准】 深紫外LED加速试验的寿命评估方法