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KS C IEC 60749-11
반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험 방법 — 제11부: 온도의 급격한 변화 —두 개의 용액조 방법
现行
发布日期 :
2020-12-31
实施日期 :
KS C IEC 60749-20
반도체 소자 — 기계 및 기후적 시험방법— 제20부:플라스틱 캡슐형 SMD의 습기 및 땜납열의 결합효과에 대한 내구성
现行
发布日期 :
2020-11-20
实施日期 :
BS EN IEC 60749-18:2019 - TC
Tracked Changes. Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
现行
发布日期 :
2020-11-03
实施日期 :
BS EN IEC 60749-20:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
现行
发布日期 :
2020-10-14
实施日期 :
BS EN IEC 60749-15:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
现行
发布日期 :
2020-10-01
实施日期 :
BS EN IEC 60749-30:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
现行
发布日期 :
2020-09-30
实施日期 :
BS EN IEC 60749-41:2020
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods
现行
发布日期 :
2020-09-09
实施日期 :
KS C IEC 60749-7
반도체 소자 — 기계 및 기후적 환경 시험 방법 — 제7부: 내부 수분 함량 측정 및 그 이외의 잔류 기체분석
现行
发布日期 :
2020-07-23
实施日期 :