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国际标准 （0）
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IEC 60749-18:2002 EN-FR a5fcd720
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
REVISED
发布日期 :
2002-12-13
实施日期 :
IEC 60749-21:2025 FR 79771d8e
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 21: Solderability
现行
发布日期 :
2025-12-09
实施日期 :
IEC 60749-23:2004 EN-FR 9f11845f
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life
REVISED
发布日期 :
2004-02-23
实施日期 :
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