IEC 60749:1996 EN-FR fcb6e313
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods
被代替
发布日期 :
1996-10-28
实施日期 :
IEC PAS 62191:2000 EN 7635b1e4
Acoustic microscopy for nonhermetic encapsulated electronic components
被代替
发布日期 :
2000-11-28
实施日期 :
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