IEC 60749-8:2002 EN-FR 669c6bd9
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 8: Sealing
现行
发布日期 :
2002-08-30
实施日期 :
IEC 61975:2010 EN-FR 2ed882e4
High-voltage direct current (HVDC) installations - System tests
现行
发布日期 :
2010-07-29
实施日期 :
IEC TR 63133:2017 EN c19862da
Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices
现行
发布日期 :
2017-10-11
实施日期 :
IEC 60749-22:2002 EN-FR 2ac58a50
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 22: Bond strength
被代替
发布日期 :
2002-09-12
实施日期 :
IEC PAS 62190:2000 EN 0c727040
Moisture/reflow sensivity classification for nonhermetic solid state surface mount devices
被代替
发布日期 :
2000-11-28
实施日期 :

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