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国际标准 （0）
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国外标准 （0）
- 全部 ANSI 美国国家标准学会( 0 ) API 美国石油学会( 0 ) AS 澳大利亚标准( 0 ) ASME 美国机械工程协会( 0 ) ASTM 美国材料与试验协会标准( 0 ) BS 英国标准( 0 ) BSI 英国BSI标准( 0 ) CFR 美国联邦法规( 0 ) CSA 加拿大标准( 0 ) DE 德国标准( 0 ) DIN 德国DIN标准( 0 ) EN 欧洲标准( 0 ) FR 法国标准( 0 ) IEEE 美国电气电子工程师协会( 0 ) JP 日本标准( 0 ) JSA 日本JIS标准( 0 ) KS 韩国标准( 0 ) MIL 美国军用标准( 0 ) SAE 美国机动车工程师学会( 0 ) SU 俄罗斯GOST标准( 0 ) UL 美国保险商试验室( 0 ) UNI 意大利标准( 0 )
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IEC 61207-3:2019 RLV EN c82521dd
Gas Analyzers - Expression of performance - Part 3: Paramagnetic oxygen analysers
现行
发布日期 :
2019-06-26
实施日期 :
IEC 61207-6:1994 EN-FR 0342eff5
Expression of performance of gas analyzers - Part 6: Photometric analyzers
REVISED
发布日期 :
1994-03-04
实施日期 :
IEC 61207-6:2014 EN-FR 4523eb95
Expression of performance of gas analyzers - Part 6: Photometric analyzers
现行
发布日期 :
2014-11-25
实施日期 :
ISO 17109:2022 EN 819351e3
Surface chemical analysis — Depth profiling — Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films
现行
发布日期 :
2022-03-01
实施日期 :
ISO 17331:2004/Amd 1:2010 EN a3712f79
Surface chemical analysis — Chemical methods for the collection of elements from the surface of silicon-wafer working reference materials and their determination by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy — Amendment 1
现行
发布日期 :
2010-07-05
实施日期 :
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