本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)获取纳米级核壳材料水平投影图形并测量其壳层厚度(10 nm~100 nm)的方法。
本文件适用于TEM/STEM记录的微纳颗粒数字像以及配备能量色散X射线谱仪(EDS)或者电子能量损失谱仪(EELS)记录的元素面分布图测量壳层厚度。适用测量颗粒核的直径范围为10 nm~1 μm。
本文件不适用于水平投影图形Z方向大于X方向、Y方向的颗粒以及有复杂几何水平投影形状的颗粒,例如类似海胆状的纳米颗粒。
注:主要原因是当被测量壳层厚度波动大于最小截面直径20%时,本文件的不确定度将明显增大。
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本文件描述了用气相色谱法测定VOC和/或SVOC含量的方法。
本文件适用于预期VOC和/或SVOC含量大于0.01%(质量分数)且小于或等于100%(质量分数)的VOC和SVOC含量的测定。
当VOC含量大于15%(质量分数)时,采用ISO 11890-1中规定的方法进行测定。按ISO 11890-1测得的VOC含量可能受到SVOC的影响,因此,当体系中含VOC和SVOC时,采用本文件(GB/T 23986.2)测定。VOC含量小于0.1%(质量分数)时,也可选择ISO 17895中描述的顶空法进行测定。ISO 11890-1和ISO 17895不可用来测定SVOC含量。
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