【国家标准】微束分析　分析电子显微术　核壳颗粒壳壁厚度的测量方法

本网站发布时间： 2026-04-02

GB/T 47182-2026
即将实施
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标准简介

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适用范围：

本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM）获取纳米级核壳材料水平投影图形并测量其壳层厚度（10 nm~100 nm）的方法。
本文件适用于TEM/STEM记录的微纳颗粒数字像以及配备能量色散X射线谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）记录的元素面分布图测量壳层厚度。适用测量颗粒核的直径范围为10 nm~1 μm。
本文件不适用于水平投影图形Z方向大于X方向、Y方向的颗粒以及有复杂几何水平投影形状的颗粒，例如类似海胆状的纳米颗粒。
注：主要原因是当被测量壳层厚度波动大于最小截面直径20%时，本文件的不确定度将明显增大。

基本信息

标准号：
GB/T 47182-2026
标准名称：
微束分析　分析电子显微术　核壳颗粒壳壁厚度的测量方法
英文名称：
Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Method for determining shell thickness of particles with core-shell structure
标准状态：
即将实施
发布日期：
2026-02-27
实施日期：
2026-09-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
71.040.50
中标分类号：
G50;H30

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
32 页
字数：
46 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
权茂华、柳得橹、贾荣光、任旭东、洪崧、马通达
起草单位：
北京科技大学、国标(北京)检验认证有限公司、包头稀土研究院、北京化工大学
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出部门：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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