本文件描述了用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜(TEM/STEM)获取纳米级核壳材料水平投影图形并测量其壳层厚度(10 nm~100 nm)的方法。
本文件适用于TEM/STEM记录的微纳颗粒数字像以及配备能量色散X射线谱仪(EDS)或者电子能量损失谱仪(EELS)记录的元素面分布图测量壳层厚度。适用测量颗粒核的直径范围为10 nm~1 μm。
本文件不适用于水平投影图形Z方向大于X方向、Y方向的颗粒以及有复杂几何水平投影形状的颗粒,例如类似海胆状的纳米颗粒。
注:主要原因是当被测量壳层厚度波动大于最小截面直径20%时,本文件的不确定度将明显增大。
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本文件描述了测量涂膜颜色坐标具备的基本条件、测量方法,以及涂膜之间微小色差的定量色度评价方法。
本文件适用于测定反射光的颜色,即用正常视觉检查,能显示一种均匀颜色(即单色)的涂膜。也适用于测量不能完全遮盖不透明底材的涂膜(属于不透明系统涂膜)。
本文件不适用于测定发光涂膜、透明和半透明涂膜(例如,用于显示器或灯玻璃上的涂膜)、反光涂膜(例如,用于交通标记的涂膜)和金属光泽涂膜(含效应颜料涂膜)的颜色。
注: 根据两试样的色坐标,计算其色差有很多公式,但按这些公式计算的结果不能在所有情况下与视觉取得完全的一致。并且他们之间也可能不一致。1976年国际照明委员会(CIE)推荐了两种常用公式。其中之一是本文件规定的CIE 1976(L*a*b*)色差公式,现已证明其对于涂膜的色度评价是有实用意义的。
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