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GB/T 5596-1996 电容器用陶瓷介质材料 现行 发布日期 :  1996-09-09 实施日期 :  1997-05-01

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GB/T 5598-2015 氧化铍瓷导热系数测定方法 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2016-01-01

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GB/T 5838.2-2015 荧光粉 第2部分:牌号 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2016-01-01

本部分规定了荧光粉牌号的表示方法。本部分适用于光致发光荧光粉、阴极射线致发光荧光粉、电致发光荧光粉、放射线致发光荧光粉及其他方式致发光荧光粉。

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GB/T 5838.3-2015 荧光粉 第3部分:性能试验方法 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2016-01-01

本部分规定了荧光粉水溶性氯化物、密度、粒度分布、相对亮度、相对光谱功率分布、色品坐标、紫外辐照稳定性、余辉相对亮度、比表面积、流明效率、余辉时间、热稳定性、湿粘着力、干粘着力、反射率、温度特性、pH值、电导率的测试方法。本部分适用于荧光粉的性能测试,其中,紫外辐照稳定性、余辉相对亮度和比表面积的测试方法仅适用于光致发光荧光粉,流明效率、余辉时间、热稳定性、湿粘着力、干粘着力、反射率的试验方法仅适用于阴极射线致发光荧光粉。

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GB/T 5838.44-2015 荧光粉 第4-4部分:彩色显像管用荧光粉 现行 发布日期 :  2015-05-15 实施日期 :  2016-01-01

本部分规定了Y22G3、Y22B2、Y22R4荧光粉的要求、测试方法、检验规则、标志以及包装、运输和储存等。本部分适用于彩色显像管用荧光粉。

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GB/T 40563-2021 氟化物红色荧光粉 现行 发布日期 :  2021-10-11 实施日期 :  2022-05-01

本文件规定了氟化物红色荧光粉产品规格和要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存及质量证明书。
本文件适用于Mn4+激活的氟化物系列红色荧光粉,其主要用作半导体发光二极管(LED)等发光器件的光激发转换材料。

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GB/T 41203-2021 光伏组件封装材料加速老化试验方法 现行 发布日期 :  2021-12-31 实施日期 :  2022-07-01

本文件描述了光伏组件封装材料加速老化试验方法。本文件适用于光伏组件用玻璃、封装胶膜、背板,其他光伏组件封装材料参照使用。

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GB/T 17711-1999 钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法 现行 发布日期 :  1999-03-13 实施日期 :  1999-10-01

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GB/T 25494-2010 吸气剂成分分析测试方法 现行 发布日期 :  2010-12-01 实施日期 :  2011-05-01

本标准规定了蒸散型钡吸气剂载料和蒸散钡膜中钡量的测定方法、释汞吸气剂含汞量的测试方法、掺氮吸气剂载料中含氮量的测试方法、蒸散型吸气剂镍含量检测方法。
本标准适用于真空器件用吸气剂。

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GB/T 25495-2010 吸气剂金属释放特性测试方法 现行 发布日期 :  2010-12-01 实施日期 :  2011-05-01

本标准规定了吸气剂金属释放特性测试方法,如释汞吸气剂的总释汞量、标准释汞量、释汞特性曲线及热稳定性的测试方法、蒸散型钡吸气剂得钡量的测试方法、掺氮吸气剂钡膜分布测试方法。
本标准适用于真空器件用吸气剂。

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GB/T 25496-2010 吸气剂机械性能测试方法 现行 发布日期 :  2010-12-01 实施日期 :  2011-05-01

本标准规定了吸气剂装载量、吸气剂压制或烧结固度、吸气剂载体与支架焊接强度、吸气剂压制密度均匀性等吸气剂机械性能测试方法。
本标准适用于真空器件用吸气剂。

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GB/T 25497-2010 吸气剂气体吸放性能测试方法 现行 发布日期 :  2010-12-01 实施日期 :  2011-05-01

本标准规定了吸气剂放气量的测试方法、掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线的测试方法、释汞吸气剂放气回吸曲线的测试方法、定压法吸气性能测试方法、定容法吸气性能测试方法等吸气剂气体吸放性能测试方法。
本标准适用于真空器件用吸气剂。

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GB/T 13842-2017 掺钕钇铝石榴石激光棒 现行 发布日期 :  2017-05-31 实施日期 :  2017-12-01

本标准规定了掺钕钇铝石榴石(Nd:Y3Al5O12,简称Nd:YAG)激光棒的技术要求、检验方法、检验规则和交货准备等。本标准适用于掺钕钇铝石榴石激光棒。

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GB/T 14015-1992 硅-蓝宝石外延片 现行 发布日期 :  1992-12-28 实施日期 :  1993-08-01

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GB/T 14620-2013 薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 现行 发布日期 :  2013-11-12 实施日期 :  2014-04-15

本标准规定了薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片的要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。
本标准适用于薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片(以下简称“基片”)的生产和采购,采用薄膜工艺的片式元件用氧化铝陶瓷基片也可参照使用。

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