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YS/T 63的本部分规定了一种在室温下测定断裂能量的方法,断裂能量的大小与电解槽中预焙阳极的抗热冲击能力相关。
本部分适用于预焙阳极断裂能量的测定。

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YS/T 27-1992 晶片表面微粒沾污测量和计数的方法 现行 发布日期 :  1992-03-09 实施日期 :  1993-01-01

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