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本文件描述了用氮吸附法测定氧化铝比表面积(SSA)的方法。
本文件适用于氧化铝比表面积的测定,测定范围:50.0 m2/g~150.0 m2/g。

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本文件描述了氧化铝松装和振实密度的测定方法。本文件适用于氧化铝松装和振实密度的测定,氢氧化铝、精细氧化铝及其他固体颗粒物料可参照执行。

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本文件描述了用筛分法测定氧化铝粒度分布的方法。本文件适用于氧化铝粒度分布的测定。干筛法适用于粒径小于45 μm的颗粒含量小于50%的粒度分布测定;湿筛法适用于范围为16 μm~63 μm粒度分布的测定;溶剂冲洗法适用于粒径小于20 μm的颗粒含量小于或等于4%的粒度分布的测定。

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GB/T 41079.2-2022 液态金属物理性能测定方法 第2部分:电导率的测定 现行 发布日期 :  2022-10-12 实施日期 :  2023-02-01

本文件描述了用直流四探针法测定液态金属电阻率和电导率的方法。
本文件适用于在室温至300 ℃范围内进行液态金属电阻率和电导率的测定。

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本文件规定了氧化铝在300 ℃和1 000 ℃下质量损失的测定方法。用水分(MOI)表示原始试样经300 ℃干燥后的质量损失。用灼减(LOI)表示300 ℃预先干燥试样在1 000 ℃下灼烧的质量损失。
本文件适用于氧化铝中质量损失的测定,300 ℃质量损失测定范围:0.20%~5.00%,1 000 ℃质量损失的测定范围:0.10%~2.00%。仪器分析不作为仲裁试验方法。

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本文件规定了波长色散X射线荧光光谱法测定氧化铝中微量元素含量的方法,包括熔融制样法和研磨压片法,熔融制样法为仲裁方法。
本文件适用于波长色散X射线荧光光谱法测定冶金级氧化铝中微量元素钠、硅、铁、钙、钾、钛、磷、钒、锌和镓(用氧化物表示为Na2O、SiO2、Fe2O3、CaO、K2O、TiO2、P2O5、V2O5、ZnO和Ga2O3)含量,其他氧化铝品种可参考使用本文件的方法。测定范围见表1。

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GB/T 41079.1-2021 液态金属物理性能测定方法 第1部分:密度的测定 现行 发布日期 :  2021-12-31 实施日期 :  2022-07-01

本文件规定了液态金属密度的测定方法。
本文件适用于在室温至300 ℃范围内进行液态金属密度的测定。在300 ℃以上的熔盐、金属熔体密度测定也可参照使用。

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GB/T 6609的本部分规定了冶金级氧化铝中微量元素含量的测定方法。(用氧化物表示为Na2O、K2O、Fe2O3、CuO、MgO、CaO、ZnO、V2O5、TiO2、Ga2O3、MnO、Li2O、BeO、Cr2O3、B2O3)
本部分适用于冶金级氧化铝中微量元素含量的测定。测定范围见表1。

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GB/T 6609的本部分规定了氧化铝中氧化锌含量的测定。
本部分适用于氧化铝中氧化锌含量的测定。测定范围:0.001 0%~0.040%。

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GB/T 6609的本部分规定了氧化铝中氧化锂含量的测定。
本部分适用于氧化铝中氧化锂含量的测定。测定范围:0.005%~0.20%。

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GB/T 6609的本部分规定了氧化铝中氧化钾含量的测定方法。
本部分适用于氧化铝中氧化钾含量的测定。方法一测定范围:0.002%~0.12%;方法二测定范围:0.002%~0.20%。

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  本部分规定了在开路中稀土永磁材料开路可逆磁通温度系数(α)的测试方法。  本部分适合各类稀土永磁材料开路可逆磁通温度特性的测定。|α|的测定范围:0.001%/℃~0.4%/℃。

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本部分规定了稀土永磁材料抗弯强度(σbb)和断裂韧度(KⅠC)的测定方法。本部分适用于脆性断裂稀土永磁材料的抗弯强度和断裂韧度(KⅠC)的测定。抗弯强度的测定范围:20 MPa~2 000 MPa,断裂韧度(KⅠC)的测定范围:0.5 MPa·m1/2~50 MPa·m1/2。

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本标准规定了用双面研磨机测定稀土抛光粉的抛蚀量和划痕的方法。
本标准适用于以铈基稀土为主的稀土抛光粉抛蚀量和划伤率的测定。测定范围分别为:抛蚀量0.05 mg/(cm2·min) ~ 0.25 mg/(cm2·min)、划伤率0%~100%。

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GB/T 6609的本部分规定了氧化铝在300 ℃和1 000 ℃下质量损失的测定方法。依照惯例,用水分(MOI)表示300 ℃的质量损失,用灼减(LOI)表示1 000 ℃的质量损失。
本部分适用于焙烧的氧化铝中质量损失的测定。300 ℃质量损失的测定范围:0.2%~5%;1 000 ℃质量损失的测定范围:0.1%~2%。
本部分规定在测量样品MOI和LOI值时,需提供测量结果的原始数据。为了提高样品的分析精密度,样品应该在分析前进行空气平衡,空气平衡能显著影响MOI和LOI的测量结果。空气平衡的步骤和造成的影响见附录A。
本部分还将涉及到仪器分析方法。

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