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DB34/T 3371-2019 印制电路板刚性覆铜箔层压板导热系数测定方法 现行 发布日期 :  2019-07-01 实施日期 :  2019-09-01

本标准规定了用平板法测定印制电路用刚性覆铜箔层压板(以下简称覆铜板)导热系数的测试原理、 试样、测定仪器、测定环境、测定步骤、结果计算和测定报告。 本标准适用于厚度不小于 1.00 mm 覆铜板导热系数的测定,也适用于厚度不小于 1.00 mm 覆铜板 光板的导热系数的测定。

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DB34/T 3370-2019 印制电路板表面游离氯、溴的测定离子色谱法 现行 发布日期 :  2019-07-01 实施日期 :  2019-09-01

本标准规定了用离子色谱法测定印制电路板表面游离氯、溴含量的原理、试剂、仪器设备、分析步 骤、结果计算、精密度及试验报告。 本标准适用于印制电路板表面游离氯、溴含量的测定。最低检出限:0.0006 mg/m2 。

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DB34/T 3369-2019 印制电路用覆铜箔层压板基材厚度测定方法金相法 现行 发布日期 :  2019-07-01 实施日期 :  2019-09-01

本标准规定了印制电路用覆铜箔层压板基材厚度测定方法 金相法的仪器、测试程序以及报告。 本标准适用于金相法测定印制电路用覆铜箔层压板基材的厚度,测定范围为 30 μm 以 上 。

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本部分规定了印制电路板中六价铬的方法原理、试剂及材料、仪器,样品制备、分析步骤、结果计 算、精密度和报告。 本部分适用于印制电路板中六价铬的测定,方法检出限为:2 mg/kg。

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本部分规定了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定印制电路板中汞含量的方法原理、试剂、仪器 设备、样品制备、分析步骤、结果计算、精密度、报告。 本部分适用于印制电路板中汞含量的测定。 方法检出限为 5 mg/kg。

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本部分规定了印制电路板中的铅和镉的电感耦合等离子发射光谱仪检测方法的方法原理、仪器、试 剂及材料、样品制备、分析步骤、结果计算、精密度和报告。 本部分适用于印制电路板中的铅和镉的含量的测定。 铅和镉的方法检出限为 0.0003%。

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本部分规定了印制电路板中多溴联苯及多溴二苯醚的气相色谱-质谱法的原理、试剂、仪器工具、 样品制备、分析步骤、结果计算、精密度和报告。 本部分适用于印制电路板中多溴联苯及多溴二苯醚的测定。 多溴联苯及多溴二苯醚的方法检出限为 6 mg/kg。

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本部分规定了印制电路板中卤素的离子色谱测定方法的原理、试剂、仪器工具、样品制备、分析步 骤、计算、精密度和报告。 本部分适用于离子色谱法测定印制电路板中的卤素含量。 氯离子的方法检出限为 0.0009%,溴离子的方法检出限为 0.0009%。

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本部分规定了 X 射线荧光光谱法快速筛选印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的方法原理、 仪器设备、试剂、样品制备、分析步骤、筛选和报告。 本部分适用于印制电路板中有害物质铅、汞、铬、镉、溴的快速筛选,其中所测定的铬、溴是指样 品中的总铬、总溴。

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DB34/T 3367-2019 印制电路板镀覆孔热应力的测试方法 现行 发布日期 :  2019-07-01 实施日期 :  2019-09-01

本标准规定了印制电路板的镀覆孔热应力测试方法的设备及试剂、测试步骤以及缺陷判断与报告。 本标准适用于印制电路板中有金属镀层的镀覆孔的热应力测试。

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DB34/T 3366-2019 刚性多层印制板吸水率的测试方法 现行 发布日期 :  2019-07-01 实施日期 :  2019-09-01

本标准规定了刚性多层印制电路板吸水率的仪器及设备、测试步骤、结果计算和报告。 本标准适用于测试刚性多层印制电路板的吸水率。

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DB34/T 3365-2019 印制电路板可焊性测定边浸法 现行 发布日期 :  2019-07-01 实施日期 :  2019-09-01

本标准规定了印制板可焊性测定 边浸法的术语和定义、设备及试剂、试样、测试步骤、判定和报 告。 本标准适用于印制板表面金属导体的可焊性 边浸法测定,不适用于测定印制板镀覆孔的可焊性测 定。

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