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GB/T 43455-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核质量评测 现行 发布日期 :  2023-12-28 实施日期 :  2024-04-01

本文件规定了模拟/混合信号知识产权(IP)核质量的评测内容,包括IP核的文档质量、IP核的电路设计质量、物理设计质量、模型质量、IP核功能验证质量和IP核流片验证质量等。本文件适用于模拟/混合信号IP核的提供者、使用者和第三方评测模拟/混合信号IP核的质量,包括完备性和可复用性,并不涵盖具体功能和性能的评测。

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GB/T 43452-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核交付项要求 现行 发布日期 :  2023-12-28 实施日期 :  2024-04-01

本文件规定了模拟/混合信号知识产权(IP)核交付项及推荐格式或语言的要求。本文件适用于模拟/混合信号IP核的测试、交换与集成。

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GB/T 43453-2023 模拟/混合信号知识产权(IP)核文档结构指南 现行 发布日期 :  2023-12-28 实施日期 :  2024-04-01

本文件提供了模拟/混合信号知识产权(IP)核相关文档结构,包括IP核简介、功能规范、设计手册、功能及物理验证文档和应用手册。本文件适用于模拟/混合信号IP核的提供者组织撰写模拟/混合信号IP核相关文档、使用者和第三方评价模拟/混合信号IP核文档的质量控制。注: 此处第三方是指在IP核交易过程中进行评测和提供服务的独立机构。

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GB/T 42973-2023 半导体集成电路 数字模拟(DA)转换器 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件规定了数字模拟(DA)转换器(以下简称DA转换器或DAC)的分类、技术要求、测试方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的DA转换器。

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GB/T 42839-2023 半导体集成电路 模拟数字(AD)转换器 现行 发布日期 :  2023-08-06 实施日期 :  2023-12-01

本文件规定了模拟数字(AD)转换器(以下简称AD转换器或ADC)的分类、技术要求、检验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于采用半导体集成电路工艺设计制造的AD转换器。

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GB/T 37977的本部分规定了用于模拟机器模型(MM)的静电放电(ESD)电流波形和用于产生和验证这些波形的设备的基本要求。
本部分适用于在一般试验方法中所用的,以及在材料、电子元器件、组件或产品的ESD敏感度试验或性能评估试验中使用的MM ESD电流波形。这些MM ESD电流波形在不通电半导体器件中的特定应用由IEC 60749-27规定。

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GB/T 13166-2018 电子测量仪器设计余量与模拟误用试验 现行 发布日期 :  2018-06-07 实施日期 :  2019-01-01

本标准规定了电子测量仪器(以下简称仪器)新产品在设计时应进行的设计余量与模拟误用试验。
本标准适用于所有环境组别的电子测量仪器。

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GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-08-01

本标准规定了双极、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关(以下称为器件)参数测试方法。本标准适用于半导体集成电路模拟开关,也适用于多路转换器参数的测试。

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GB/T 5271.19-2008 信息技术 词汇 第19部分:模拟计算 现行 发布日期 :  2008-07-18 实施日期 :  2008-12-01

GB/T 5271的本部分方便信息技术的国际交流。本部分给出了与信息处理领域相关的概念的术语和定义,并明确了这些条目之间的关系。 GB/T 5271的本部分定义了与模拟和混合算术单位、函数发生器、转换器以及这些组件运行模式相关的各种概念。

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GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 现行 发布日期 :  2000-01-03 实施日期 :  2000-07-01

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GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 被代替 发布日期 :  1992-12-18 实施日期 :  1993-08-01

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