本文件适用于以下设备发射(辐射和传导)的射频骚扰:
——照明设备(3.3.16);
——主要功能之一是照明的多功能设备中的照明部分;
注1:实例有可见光通信、娱乐照明的照明设备。
——用于居住和非工业应用的紫外线和红外线辐射设备;
——公告标识;
注2:实例有霓虹灯式的广告招牌。
——装饰照明;
——应急标志。
不包括在本文件范围内的有:
——打算装在照明设备内且用户不可替换的组件或模块;
注3:内装式控制装置参见CISPR 30(所有部分)。
——工作在工业、科学和医疗频段[ITU无线电条例第63号决议(1979)给出了定义]的照明设备;
——航空器和飞机场用的照明设备(跑道、服务设施、平台);
——视频标识;
——安装件;
——射频范围内的电磁兼容性要求在其他CISPR标准内有明确规定的器具,即使具有内装的照明功能。
注4:不包括的实例有:
——作为显示背光、刻度盘照明和信号的内装式照明器具;
——SSL显示;
——吸油烟机、冰箱、冷冻箱;
——复印机、幻灯放映机;
——道路机动车辆的照明设备(在CISPR 12范围内的)。
覆盖的频率范围为9 kHz~400 GHz。在本文件中未规定限值的频率上,不需要进行任何测试。
同时适用本文件和(或)其他标准不同条款的多功能设备,相关功能工作时需要满足每个条款或标准的规定。
对于本文件范围以外并且照明作为次要功能的设备,只需要在按照其适用标准进行评定时运行了照明功能,则无需单独按照本文件评定其照明功能。
注5:照明作为产品次要功能的例子有吸油烟机、电风扇、冰箱、冷冻箱、烤箱和带氛围照明的电视。
本文
定价: 86元 / 折扣价: 74 元 加购物车
GB/T 39560的本部分采用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS法测定聚合物、金属和电子件中的汞。
本部分规定了电子电气产品中汞(Hg)含量的测定。这些材料可以是聚合物、金属及电子件(如:印刷线路板、荧光灯、汞开关)。含汞电池参照参考文献[1]进行处理。国际实验室方法研究仅对塑料的检测方法进行了评估,而未涉及其他类型的基体。
本部分中的样品是指处理和检测的对象。样品是什么样的、以及如何获得样品,由执行检测的机构确定。为检测电子产品中限用物质的含量,如何从中获得其代表性样品的进一步指南见IEC 62321-2。值得注意的是,样品的选择和/或确定可能影响检测结果的解释。
本部分描述了四种方法的使用,即CV-AAS(冷蒸气原子吸收光谱法)、CV-AFS(冷蒸气原子荧光光谱法)、ICP-OES(电感耦合等离子体发射光谱法)和ICP-MS(电感耦合等离子体质谱法),以及几种制备样品溶液的方法,可以从中选择最合适的分析方法。
用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定目标元素-汞,具有高准确性(不确定度小)和/或高灵敏度(检出限低至μg/kg水平)的特点。本部分描述的测试步骤可以测定4 mg/kg~1000 mg/kg含量范围内的汞,且准确度和精确度高。这些方法也适用于更高含量汞的测定。
采用热分解-金汞齐结合CV-AAS(TD(G)-AAS)的方法无需样品消解,也可用于汞的直接测定。由于样品量少,检出限会高于其他方法。
定价: 43元 / 折扣价: 37 元 加购物车
GB/T 39560的本部分描述了AAS、AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子件中铅、镉和铬的方法。
本部分规定了电子电气产品中镉(Cd)、铅(Pb)和铬(Cr)含量的测定。它涵盖了三种类型的基体:聚合物/聚合物组件、金属及合金和电子件。
本部分中的样品是指处理和检测的对象。样品及其获得方式由实施检测的机构确定。为检测电子产品中限用物质的含量,如何从中获得其代表性样品的进一步指南见IEC 62321-2。样品的选择和/或测定可能影响对检测结果的解释。
本部分规定了电子电气产品中镉(Cd)、铅(Pb)和铬(Cr)含量的测定方法,介绍了四种仪器的检测方法(AAS、AFS、ICP-OES、ICP-MS)以及几种样品化学前处理方法(样品溶液的制备),可以从中选择最合适的方法。
由于聚合物和电子件中的六价铬有时难以测定,本部分描述了除AFS以外的聚合物和电子件中铬的筛选方法。铬的分析能提供材料中是否存在六价铬的信息。然而,元素分析不能选择性地测定六价铬,它测定的是样品中的总铬含量。如果总铬含量超过六价铬的限量,则应进行六价铬的确证检测。
本部分所述的ICP-OES和AAS法在测定含量高于10 mg/kg Pb、Cd和Cr;或者ICP-MS法测定高于0.1 mg/kg的Pb、Cd;或者AFS法测定高于10 mg/kg的Pb,高于1.5 mg/kg的Cd时,可获得最好的准确度和精密度。这些方法也可以测试更高含量的样品。
因为材料稳定性的关系,本部分不适用于含多氟聚合物的样品。如果在分析过程中使用硫酸,则存在Pb损失的风险,从而会得到错误的偏低的分析值。此外,因为可能干扰Cd的还原,硫酸和氢氟酸不适合于原子荧光光谱法测定Cd。
样品的溶解过程存在局限性和风险,例如可能发生目标物或其他元素的沉淀,在这种情况下,残留物应单独检查或用其他方法溶解,然后与测试样品溶液合并。
定价: 59元 / 折扣价: 51 元 加购物车
GB/T 39560的本部分规定了在聚合物和电子件样品中定量检测六价铬[Cr(Ⅵ)]的方法。本部分测定方法采用有机溶剂来溶解或溶胀样品基体,随后采用碱性消解程序从样品中提取六价铬。研究表明,对于从可溶性和不可溶性的样品中提取六价铬,有机/碱性溶液提取效果比酸性溶液更有效。在碱性溶液条件下,六价铬还原成三价铬或者三价铬氧化成六价铬的程度最少。
对于ABS(丙烯腈-丁二烯-苯乙烯)、PC(聚碳酸酯)和PVC(聚氯乙烯)构成的可溶性聚合物样品,首先要用适当的有机溶剂将样品进行溶解,然后用碱性提取液来提取六价铬。
对于不含锑(Sb)的不可溶解的或未知的聚合物或者电子件材料,首先将样品放入150 ℃到160 ℃的甲苯/碱性溶液中消解,然后将提取物中的有机相分离并丢弃,保留无机相用于六价铬分析。
提取物中的六价铬浓度是通过提取物在酸性条件下与1,5-二苯卡巴肼的反应来测定。在与二苯卡巴肼的反应过程中,六价铬被还原为三价铬,而二苯卡巴肼被氧化为二苯卡巴腙。然后三价铬和二苯卡巴腙进一步反应形成一种紫红色化合物。然后用色度计或分光光度计在540 nm处对该紫红色化合物溶液进行定量测定。
定价: 31元 / 折扣价: 27 元 加购物车
GB/T 39560的本部分描述了两种标准方法和两种参考方法,用于测定在电子电气产品聚合物中的邻苯二甲酸二异丁酯(DIBP)、邻苯二甲酸二正丁酯(DBP)、邻苯二甲酸丁苄酯(BBP)、邻苯二甲酸二异辛酯(DEHP)、邻苯二甲酸二正辛酯(DNOP)、邻苯二甲酸二异壬酯(DINP)以及邻苯二甲酸二异癸酯(DIDP)。
本部分的标准方法是气相色谱-质谱(GC-MS)法与配有热裂解/热脱附的气相色谱-质谱(Py/TD-GC-MS)法。
GC-MS法是定量测定DIBP、DBP、BBP、DEHP、DNOP、DINP 和DIDP 的标准方法,测定范围从50 mg/kg到2 000 mg/kg。
配有热裂解/热脱附的气相色谱-质谱法(Py/TD-GC-MS),适用于筛选和半定量分析电子电气产品聚合物材料中的DIBP、DBP、BBP、DEHP、DNOP、DINP和DIDP,测定范围为100 mg/kg到2 000 mg/kg。
离子附着质谱法(IAMS)适用于DIBP、DBP、BBP、DEHP、DNOP、DINP以及DIDP的筛选和半定量分析,详见附录A。由于质谱峰分辨率的限制,用IAMS法测定DBP和 DIBP、DEHP和DNOP的方法尚未确定。
液相色谱-质谱法(LC-MS)仅限于BBP、DEHP、DNOP、DINP 和DIDP的测定,详见附录B。由于质谱峰分辨率的限制,用LC-MS技术测定DBP和DIBP的方法尚未确定。
附录C中提供的流程图,描述了如何使用两种标准方法:Py/TD-GC-MS和GC-MS,及如何使用两种参考方法:直接进样(DIP)-离子附着质谱(IAMS)和液相色谱-质谱(LC-MS)。
这四种测试方法已经通过测试邻苯二甲酸酯含量约450 mg/kg至30 000 mg/kg的聚乙烯(PE)和聚氯乙烯(PVC)材料进行评估。本部分所述的四种方法对其他聚合物类型、邻苯二甲酸类化合物或上述规定浓度范围之外的使用未做具体评估。
定价: 97元 / 折扣价: 83 元 加购物车