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GB/T 42975-2023 半导体集成电路 驱动器测试方法 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件规定了半导体集成电路驱动器(以下简称器件)的电特性测试方法的基本原理和测试程序。本文件适用于74/54系列驱动器、总线驱动器、PIN开关驱动器、达林顿驱动器、时钟驱动器、LVDS驱动器、MOSFET驱动器和差分驱动器等各种半导体工艺制造的驱动器的电性能测试。其他类别驱动器的测试参考使用。

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GB/T 14080-2010 硬磁盘驱动器头堆组件通用规范 现行 发布日期 :  2011-01-14 实施日期 :  2011-05-01

本标准规定了硬磁盘驱动器头堆组件的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。
本标准适用于符合GB/T 12628—2008的63.5mm(2.5in)和90mm(3.5in)硬磁盘驱动器的头堆组件。其他尺寸的头堆组件(以下简称产品)可参照本标准。

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GB/T 12628-2008 硬磁盘驱动器通用规范 现行 发布日期 :  2008-07-18 实施日期 :  2008-12-01

本标准规定了硬磁盘驱动器(以下简称产品)的技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存等。 本标准主要适用于2.5 in和3.5 in硬磁盘驱动器,是制定产品标准的依据,其他规格的可参照使用。

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GB/T 14080-1993 温盘驱动器小型磁头通用技术条件 被代替 发布日期 :  1993-01-07 实施日期 :  1993-08-01

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GB/T 12627-1990 软磁盘驱动器通用技术条件 现行 发布日期 :  1990-12-28 实施日期 :  1991-10-01

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GB/T 12628-1990 硬磁盘驱动器通用技术条件 被代替 发布日期 :  1990-12-28 实施日期 :  1991-10-01

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