微信公众号随时随地查标准

QQ交流1群(已满)

QQ群标准在线咨询2

QQ交流2群

购买标准后,可去我的标准下载或阅读

GB/T 15074-2025 电子探针定量分析方法通则 即将实施 发布日期 :  2025-03-28 实施日期 :  2025-10-01

本文件规定了电子探针显微分析仪(电子探针)定量分析的仪器设备、标准样品、试样制备、测量前的准备、测量条件的选择、测量过程、电子束入射电流的测量、各元素质量分数的计算、测量不确定度的评定和结果报告。
本文件适用于电子探针对试样中各元素的定量测量及数据处理,带有波谱仪的扫描电镜的定量分析参照执行。

定价: 43元 / 折扣价: 37 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 45528-2025 纳米技术 纳米多孔材料孔径及孔径分布测试 荧光探针 即将实施 发布日期 :  2025-04-25 实施日期 :  2025-11-01

本文件描述了使用荧光探针法测量纳米多孔材料贯通孔孔径及孔径分布的测试方法。
本文件适用于具有纳米尺度的过滤材料贯通孔孔径及孔径分布的测量。其他尺度的多孔材料参考本文件。

定价: 49元 / 折扣价: 42 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 28634-2025 微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析 即将实施 发布日期 :  2025-04-25 实施日期 :  2025-11-01

本文件规定了应用电子探针显微分析仪或者安装在扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。
本文件还包括如下内容:
——定量分析原理;
——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;
——仪器的一般要求;
——有关试样制备、实验条件选择、分析测量和报告等基本过程。
本文件适用于电子束垂直入射到表面平滑、均匀的块状试样的定量分析。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者宜从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器规格等信息。

定价: 38元 / 折扣价: 33 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 20725-2025 微束分析 电子探针显微分析 波谱法定性点分析导则 即将实施 发布日期 :  2025-03-28 实施日期 :  2025-10-01

本文件给出了用电子探针显微分析仪或者扫描电镜的波谱仪附件获得试样特定体积内(μm3尺度)的X射线谱进行元素鉴别和确认特定元素存在的方法。

定价: 31元 / 折扣价: 27 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 17365-2025 微束分析 金属与合金电子探针定量分析试样的制备方法 即将实施 发布日期 :  2025-03-28 实施日期 :  2025-10-01

本文件描述了用于电子探针分析的金属与合金块状试样的制备方法。
本文件适用于电子探针或配备能谱或波谱仪的扫描电镜定量分析用的标准样品和试样。
本文件不适用于制备颗粒度小于5 μm或厚度小于4 μm的试样。

定价: 29元 / 折扣价: 25 加购物车

在线阅读 收 藏

本文件规定了用于表征AFM探针形状,特别是柄和近尖端轮廓的两种方法。这两种方法分别通过将AFM探针尖轮廓投影到指定平面上,或者在确定的操作条件下将探针柄的特征投影到该平面上来实现。其中,后一种方法可以给出探针用于狭窄沟槽和类似轮廓结构的深度测量时的有效性。本文件适用于半径大于5u0的探针,其中u0是用于表征探针的参考样品脊形结构宽度的不确定度。

定价: 49元 / 折扣价: 42 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 1551-2021 硅单晶电阻率的测定 直排四探针法和直流两探针 现行 发布日期 :  2021-05-21 实施日期 :  2021-12-01

本文件规定了用直排四探针法和直流两探针法测试硅单晶电阻率的方法。
本文件适用于硅单晶电阻率的测试,其中直排四探针法可测试的p型硅单晶电阻率范围为7×10-4 Ω·cm~8×103 Ω·cm,n型硅单晶电阻率范围为7×10-4 Ω·cm~1.5×104 Ω·cm;直流两探针法适用于测试截面积均匀的圆形、方形或矩形硅单晶的电阻率,测试范围为1×10-3 Ω·cm~1×104 Ω·cm,样品长度与截面最大尺寸之比不小于3:1。硅单晶其他范围电阻率的测试可参照本文件进行。

定价: 49元 / 折扣价: 42 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 34797-2017 核酸引物探针质量技术要求 现行 发布日期 :  2017-11-01 实施日期 :  2018-05-01

本标准规定了DNA引物探针的质量评价指标、技术要求、试验方法、包装运输和储存要求。本标准适用于DNA引物探针等寡核苷酸产品的质量评价及其检测。

定价: 31元 / 折扣价: 27 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 15394-1994 探针测试台通用技术条件 现行 发布日期 :  1994-12-28 实施日期 :  1995-08-01

定价: 29元 / 折扣价: 25 加购物车

在线阅读 收 藏

本文件描述了用于最高等级几何量测量的扫描探针显微镜(SPM)扫描轴的表征和校准方法,适用于提供进一步校准的测量系统,而不适用于校准等级需求较低的一般工业应用。
本文件旨在:
——通过对长度单位溯源,提高SPM几何量测量结果的可比性;
——明确校准程序及验收条件的最低要求;
——确认被校准仪器的能力(赋予仪器“校准能力”所属的类别);
——规定校准的范围(测量及环境条件、测量范围、时间稳定性、通用性);
——根据ISO/IEC Guide 98-3,提供模型来计算SPM测量中简单几何量的不确定度;
——规定报告结果的要求。

定价: 92元 / 折扣价: 79 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 15074-2008 电子探针定量分析方法通则 现行 发布日期 :  2008-06-16 实施日期 :  2009-03-01

本标准规定了电子探针定量分析过程中仪器的安装要求、工作条件、标样选择、基本操作过程、各种校正处理方法及结果报告内容。 本标准适用于具有波谱仪的电子探针分析仪对试样中各元素组成定量分析测量及数据处理。

定价: 31元 / 折扣价: 27 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 29190-2012 扫描探针显微镜漂移速率测量方法 现行 发布日期 :  2012-12-31 实施日期 :  2013-06-01

本标准规定了SPM漂移速率的术语和定义、缩略语、测量步骤、性能参数规格,及基于SPM扫描图像的漂移速率测量基本方法。
本标准适用于0.01 nm/s到10 nm/s的漂移速率测量。本标准中的漂移测量不适用于图像校正。

定价: 38元 / 折扣价: 33 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 6617-2009 硅片电阻率测定 扩展电阻探针 现行 发布日期 :  2009-10-30 实施日期 :  2010-06-01

本标准规定了硅片电阻率的扩展电阻探针测量方法。
本标准适用于测量晶体晶向与导电类型已知的硅片的电阻率和测量衬底同型或反型的硅片外延层的电阻率,测量范围:10-3 Ω·cm~102 Ω·cm。

定价: 29元 / 折扣价: 25 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 21636-2021 微束分析 电子探针显微分析(EPMA) 术语 现行 发布日期 :  2021-12-31 实施日期 :  2022-07-01

本文件界定了电子探针显微分析(EPMA)实践中使用的术语,包括一般概念的术语和按仪器、分析方法分类的特定概念的术语。本文件适用于相关领域(SEM、AEM、EDX等)的所有标准和实践文件中通用术语的定义。

定价: 70元 / 折扣价: 60 加购物车

在线阅读 收 藏
GB/T 17366-1998 矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法 现行 发布日期 :  1998-05-08 实施日期 :  1998-12-01

定价: 24元 / 折扣价: 21 加购物车

在线阅读 收 藏
118 条记录,每页 15 条,当前第 1 / 8 页 第一页 | 上一页 | 下一页 | 最末页  |     转到第   页