【国家标准】微束分析　电子探针显微分析　块状试样波谱法定量点分析

本网站发布时间： 2025-11-03

GB/T 28634-2025
现行
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标准简介

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适用范围：

本文件规定了应用电子探针显微分析仪或者安装在扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS），通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。
本文件还包括如下内容：
——定量分析原理；
——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围；
——仪器的一般要求；
——有关试样制备、实验条件选择、分析测量和报告等基本过程。
本文件适用于电子束垂直入射到表面平滑、均匀的块状试样的定量分析。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者宜从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器规格等信息。

基本信息

标准号：
GB/T 28634-2025
标准名称：
微束分析　电子探针显微分析　块状试样波谱法定量点分析
英文名称：
Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
标准状态：
现行
发布日期：
2025-04-25
实施日期：
2025-11-01
出版语种：
中文简体

标准分类号

标准ICS号：
71.040.99
中标分类号：
G04

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：
《微束分析　电子探针显微分析　块状试样波谱法定量点分析》 IDT 等同采用

出版信息

页数：
20 页
字数：
23 千字
开本：
大16 开

其他信息

起草人：
曾毅、李香庭、彭帆
起草单位：
中国科学院上海硅酸盐研究所
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
提出部门：
全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)
发布部门：
国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会

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