本标准规定了管形荧光灯用电子控制装置的性能要求。该电子控制装置使用在电压不超过1 000 V,频率为50 Hz或60 Hz的交流电源和/或直流电源,其工作频率不同于电源的频率,与其匹配使用的为符合IEC 60081和IEC 60901要求的荧光灯和其他高频工作的荧光灯。
注1: 本标准所述试验均为型式试验。不包括对生产期间的单个控制装置的试验要求。
注2: 对于诸如灯具和独立式控制装置等最终产品,已有关于电源电流谐波和抗扰性规范的特定标准。在这方面,灯具中的控制装置起主要作用。控制装置及其他零部件均应符合这些标准。
注3: 电子控制装置的数字可寻址照明接口的要求在IEC 62386中给出。
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本文件描述了半导体镜面晶片表面深度为5 nm以内金属元素的全反射X射线荧光光谱(TXRF)测试方法。
本文件适用于硅、绝缘衬底上的硅(SOI)、锗、碳化硅、蓝宝石、砷化镓、磷化铟、锑化镓等单晶抛光片或外延片表面金属沾污的测定,尤其适用于晶片清洗后自然氧化层或经化学方法生长的氧化层中沾污元素面密度的测定,测定范围:109 atoms/cm2~1 015 atoms/cm2。
本文件规定的方法能够检测周期表中原子序数16(S)~92(U)的元素,尤其适用于钾、钙、钛、钒、铬、锰、铁、钴、镍、铜、锌、砷、钼、钯、银、锡、钽、钨、铂、金、汞和铅等金属元素。
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This standard specifies the characteristics of CdSe QDs using fluorescence emission spectroscopy.
This standard is applicable to the characterization of fluorescence emission spectrum of CdSe QDs.This standard can also be used as guideline for the characterization of fluorescence emission spectroscopy of other nanomaterials.
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本文件描述了分析人员利用全反射X射线荧光(TXRF)仪器开展水样测量的化学方法。根据良好的操作实践,本方法具有确定的准确度和精密度。本文件适用于开展大量样品常规分析且按照ISO/IEC 170251)运作的实验室。
本文件描述了水(例如,饮用水、地表水、地下水)中溶解性元素含量的测定方法。考虑到特定和额外发生的干扰,按照本方法也能测定废水和洗脱液中的元素。本文件不包括采样、稀释和预浓缩方法。
本方法能测定的元素会随着仪器X射线源的改变而发生变化。本文件未涉及健康、安全和商业因素。
测量范围取决于样品基体和遇到的干扰。对于饮用水和相对未被污染的水,大多数元素的定量限介于0.001 mg/L~0.01 mg/L。测量范围通常介于0.001 mg/L~10 mg/L的浓度区间,取决于测量元素和预先设定的要求。
附录B给出了钼靶X射线源、Ga作为校准内标时的TXRF分析水样的完整方法验证示例。
大多数元素的定量限会受到空白污染的影响,且主要依赖于所使用的实验室空气处理设施以及试剂的纯度和实验器具的清洁程度。
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