- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- G04 >>
- GB/T 42360-2023 表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
文前页下载
适用范围:
本文件描述了分析人员利用全反射X射线荧光(TXRF)仪器开展水样测量的化学方法。根据良好的操作实践,本方法具有确定的准确度和精密度。本文件适用于开展大量样品常规分析且按照ISO/IEC 170251)运作的实验室。
本文件描述了水(例如,饮用水、地表水、地下水)中溶解性元素含量的测定方法。考虑到特定和额外发生的干扰,按照本方法也能测定废水和洗脱液中的元素。本文件不包括采样、稀释和预浓缩方法。
本方法能测定的元素会随着仪器X射线源的改变而发生变化。本文件未涉及健康、安全和商业因素。
测量范围取决于样品基体和遇到的干扰。对于饮用水和相对未被污染的水,大多数元素的定量限介于0.001 mg/L~0.01 mg/L。测量范围通常介于0.001 mg/L~10 mg/L的浓度区间,取决于测量元素和预先设定的要求。
附录B给出了钼靶X射线源、Ga作为校准内标时的TXRF分析水样的完整方法验证示例。
大多数元素的定量限会受到空白污染的影响,且主要依赖于所使用的实验室空气处理设施以及试剂的纯度和实验器具的清洁程度。
本文件描述了水(例如,饮用水、地表水、地下水)中溶解性元素含量的测定方法。考虑到特定和额外发生的干扰,按照本方法也能测定废水和洗脱液中的元素。本文件不包括采样、稀释和预浓缩方法。
本方法能测定的元素会随着仪器X射线源的改变而发生变化。本文件未涉及健康、安全和商业因素。
测量范围取决于样品基体和遇到的干扰。对于饮用水和相对未被污染的水,大多数元素的定量限介于0.001 mg/L~0.01 mg/L。测量范围通常介于0.001 mg/L~10 mg/L的浓度区间,取决于测量元素和预先设定的要求。
附录B给出了钼靶X射线源、Ga作为校准内标时的TXRF分析水样的完整方法验证示例。
大多数元素的定量限会受到空白污染的影响,且主要依赖于所使用的实验室空气处理设施以及试剂的纯度和实验器具的清洁程度。
标准号:
GB/T 42360-2023
标准名称:
表面化学分析 水的全反射X射线荧光光谱分析
英文名称:
Surface chemical analysis—Total reflection X-ray fluorescence analysis of water标准状态:
现行-
发布日期:
2023-03-17 -
实施日期:
2023-07-01 出版语种:
中文简体
- 其它标准
- 推荐标准
- GB/T 46057-2025 微束分析 扫描电子显微术 CD-SEM评定关键尺寸的方法
- GB/T 14666-2025 分析化学术语
- GB/Z 32490-2016 表面化学分析 X射线光电子能谱 确定本底的程序
- GB/Z 32494-2016 表面化学分析 俄歇电子能谱 化学信息的解析
- GB/Z 35959-2018 液相色谱-质谱联用分析方法通则
- GB/T 16483-2008 化学品安全技术说明书 内容和项目顺序
- GB/T 17519-2013 化学品安全技术说明书编写指南
- GB/T 18735-2014 微束分析 分析电镜(AEM/EDS)纳米薄标样通用规范
- GB/T 20725-2025 微束分析 电子探针显微分析 波谱法定性点分析导则
- GB/T 20726-2015 微束分析 电子探针显微分析X射线能谱仪主要性能参数及核查方法
- GB/T 22461.1-2023 表面化学分析 词汇 第1部分:通用术语及谱学术语
- GB/T 22461.2-2023 表面化学分析 词汇 第2部分:扫描探针显微术术语
- GB/T 22572-2008 表面化学分析 二次离子质谱 用多δ层参考物质评估深度分辨参数的方法
- GB/T 33236-2016 多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
- GB/T 33502-2017 表面化学分析 X射线光电子能谱(XPS)数据记录与报告的规范要求
我的标准
购物车
400-168-0010










