本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。
本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。
本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。
注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。
注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。
注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。

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GB/T 1033的本部分规定了内部不含孔隙的任何形状的固体非泡沫塑料的密度或比容的测量方法。

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本标准规定了致密定形耐火制品体积密度、显气孔率和真气孔率测定的术语和定义、原理、设备和材料、试样、试验步骤、结果计算、试验误差及试验报告。本标准适用于致密定形耐火制品体积密度、显气孔率和真气孔率的测定。

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本文件规定了煤炭机械化采样、制样和化验精密度测定以及偏倚试验方法。本文件适用于煤炭机械化采样的精密度测定和偏倚试验。

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本标准规定了用三次谐波电压感应法测量大面积高温超导（HTS）膜局域临界电流密度（Jc）及其分布的方法。精确测量中最重要的因素是通过电场强度判据确定液氮温区的Jc值和通过Jc的频率依赖关系获得电流电压特性。尽管可以在有直流磁场的情况下测量Jc[20,21]，但是本标准仅适用于没有直流磁场的情况。
本标准实质上测量的是超导膜临界面电流，即Jc与超导膜的厚度d的乘积。高温超导膜的Jcd的测量范围和测量分辨率如下：
——Jcd：从200 A/m~32 kA/m（依据实验结果，不限于）；
——分辨率：100 A/m（依据实验结果，不限于）。

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本部分规定了使用卷曲度仪或拉力试验机测定浸胶帆布经向纱线卷曲度的试验方法（方法A和方法B）以及使用织物密度镜测定浸胶帆布经向和纬向密度的试验方法。
本部分适用于以涤纶纤维、锦纶纤维为经向材料制造的浸胶帆布中经向纱线卷曲度和经纬向密度的测定。
注：  可选择方法A或方法B中的任何一种试验方法，但是采用这两种方法试验得到的经向卷曲度数值可能不同，具体选择哪种试验方法可向浸胶帆布生产企业征求意见或协商。

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本文件描述了测定木材密度的试验方法。本文件适用于无疵小试样木材在相应含水率下的密度、气干密度、绝干密度和基本密度的测定。

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本部分规定了偏差、精密度校核的术语和试验方法。 本部分适用于按GB/T 2007.1和GB/T 2007.2所列取样、制样方法精密度的校核，以及对需校核的取样方法、取样装置进行偏差校核试验，也可用于制样方法、缩分设备偏差的校核。

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GB/T 20432的本部分规定了照相加工过程中所用溶液相对密度(比重)测定的通用试验方法。

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本文件规定了4H碳化硅抛光片表面质量和微管密度的共焦点微分干涉测试方法。
本文件适用于直径为50.8 mm、76.2 mm、100 mm、150 mm、200 mm，厚度范围为300 μm～1 000 μm碳化硅抛光片的表面质量和微管密度的测试。

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本标准规定了评定天然或加工锰、铬矿石品质波动的试验方法，及相关标准中所使用的定量系统取样和二级取样时的取样程序定义。同时还规定了定量系统取样和二级取样时校核取样精密度的试验方法。

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本标准规定了能量大于225 keV的工业计算机层析成像(CT)检测用密度分辨力测试卡的分类、技术要求和检验方法。
本标准适用于密度分辨力测试卡的型式检验和出厂检验。本标准也可作为用户订货的验收依据。

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