本文件规定了印制板组装件在热循环寿命内焊点空洞评估要求,描述了利用X射线观察法测定空洞的方法。本文件适用于印制板上焊接的球栅阵列(BGA)器件和盘栅阵列(LGA)器件焊点产生的空洞评估和测试,不适用于印制板组装前BGA器件封装自身空洞的评估和测试。本文件也适用于除BGA器件和LGA器件外,具有熔化和再凝固形成焊点的空洞评估和测试,如倒装芯片和多芯片组件。不适用于印制板组装件BGA器件和印制板之间有底部填充材料,或器件封装体内焊点的评估和测试。本文件适用于焊点中产生的从10 μm到几百微米的大空洞,不适用于直径小于10 μm的较小空洞(如平面微空洞)。
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