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DB51/T 2044-2015 高纯度五氧化二钒杂质元素含量的测定方法 废止 发布日期 :  2015-09-25 实施日期 :  2016-01-01

本标准规定了电感耦合等离子体原子发射光谱法同时测定硅、铝、铌、锆、钨、铁、钼、钴、铬、镍、铜、铅、镉、砷、磷、锰、钙、镁、钛含量。 本标准适用于五氧化二钒中杂质元素硅、铝、铌、锆、钨、铁、钼、钴、铬、镍、铜、铅、镉、砷、磷、锰、钙、镁、钛等19种杂质元素含量的测定,各元素测定范围(质量分数):0.005 %~0.500 %。

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DB15/T 1243-2017 树脂中杂质含量的测定 电感耦合等离子体发射光谱法 废止 发布日期 :  2017-09-10 实施日期 :  2017-12-10

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本标准规定了电感耦合等离子体质谱法测定多晶硅用三氯氢硅中硼、铁、铝、钙、铜、铬、镍、锑、钴、锌、锡、钛、锰杂质元素含量的方法本标准适用于改良西门子法生产多晶硅用三氯氢硅中硼、铁、铝、钙、铜、铬、镍、锑、钴、锌、锡、钛、锰杂质元素含量的测定

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