本文件描述了用于最高等级几何量测量的扫描探针显微镜（SPM）扫描轴的表征和校准方法，适用于提供进一步校准的测量系统，而不适用于校准等级需求较低的一般工业应用。
本文件旨在：
——通过对长度单位溯源，提高SPM几何量测量结果的可比性；
——明确校准程序及验收条件的最低要求；
——确认被校准仪器的能力（赋予仪器“校准能力”所属的类别）；
——规定校准的范围（测量及环境条件、测量范围、时间稳定性、通用性）；
——根据ISO/IEC Guide 98-3，提供模型来计算SPM测量中简单几何量的不确定度；
——规定报告结果的要求。

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本标准规定了用显微镜测定染料颗粒细度的方法。
本标准适用于分散染料、还原染料颗粒细度的测定。

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本标准规定了由体视显微镜制造商提供给用户的最低需求信息。其中,必要信息标志为(m), 推荐信息标志为(r)。本标准适用于所有体视显微镜。

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本文件规定了透射光照明的明场显微镜在像面或中间像面测量颜色特性的测量程序。
本文件还规定了如何向用户提供相关信息。

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本标准规定了金属材料中显微疏松面积百分含量测定荧光法的试样制备、显微镜配置、测量、测量精度和试验报告等内容。
本标准适用于测定铸态金属材料和3D打印金属材料中的显微疏松面积百分含量。陶瓷、粉末冶金材料等其他材料中孔隙含量的测定可参照使用。

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本标准规定了在反射偏光显微镜下测定煤的显微组分组（或显微组分）和矿物的体积分数的方法。
本标准适用于褐煤、烟煤和无烟煤制成的粉煤光片。

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本标准描述了辣椒的形态学、解剖学结构，规定了辣椒粉的显微镜检查方法。本标准适用于辣椒粉中杂质的显微镜检查。

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本标准定义了扫描电子显微术（SEM）实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。
本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析（EPMA）、分析电子显微术（AEM）、能谱法（EDX）等〕。

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本文件规定了当明场显微镜的像面或中间像面适合使用电子成像设备检测时的图像亮度和均匀性的测量程序。
本文件定义了如何测量图像的亮度和均匀度，以及向用户提供的相关信息。
注：本文件仅限定用电子成像设备检测显微镜的照明特性。如果通过目镜进行目视检测，则需要另外的测量程序，因此在测量程序的描述中需予以明确。尽管如此，通过目镜对中间像面进行视觉观察，将为图像亮度提供有效的评估。

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本文件描述了用透射电子显微术测定线状晶体表观生长方向的方法。
本文件适用于通过各种方法制备的所有种类的线状晶体材料，也适用于测定在钢、合金和其他材料中析出的类似于棒状或多边形第二相颗粒的一个轴的方向。受透射电子显微镜（TEM)的加速电压和样品自身等条件的制约，本文件适用于直径（或厚度或宽度)为几十纳米到一百纳米左右的晶体材料。本文件不适用于测定折叠、扭曲、旋转状态的线状晶体。
注： 在本文件中，线状晶体、带状晶体、针状第二相颗粒等均属于广义上的线状晶体。

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本标准规定了使用透射电子显微镜对植物病毒进行形态学观察和鉴定的步骤、质量要求及鉴定报告的发布。本标准适用于各种类型透射电镜对植物病毒形态的观察和鉴定。

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本标准规定了SPM漂移速率的术语和定义、缩略语、测量步骤、性能参数规格，及基于SPM扫描图像的漂移速率测量基本方法。
本标准适用于0.01 nm/s到10 nm/s的漂移速率测量。本标准中的漂移测量不适用于图像校正。

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本标准规定了由所有制造商生产的偏光显微镜上辅助镜片和补偿器交换所要求的机械尺寸。

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本文件描述了显微物镜数值孔径图像式测量方法的测量原理、测量装置、测量环境、测量步骤以及不确定度分析。
本文件适用于数值孔径标称值大于1.00 的无限远校正显微物镜的数值孔径测量 。

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本文件界定了在AEM实践中所用的术语。包含一般概念和特定概念的术语，按照系统顺序中各自的层次分类。
本文件适用于所有和 AEM 实践相关的标准化文件。此外，本文件的某些部分适用于相关领域（如 TEM, STEM, SEM, EPMA, EDX)通用术语的定义。

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