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【国家标准】 微束分析　扫描电子显微术　术语

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标准简介标准简介

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适用范围：

本标准定义了扫描电子显微术（SEM）实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。
本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析（EPMA）、分析电子显微术（AEM）、能谱法（EDX）等〕。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 23414-2009

  • 标准名称：

    微束分析　扫描电子显微术　术语

  • 英文名称：

    Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Vocabulary

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2009-04-01

  • 实施日期：

    2009-12-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    01.040.37;37.020

  • 中标分类号：

    N33

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《微束分析　扫描电子显微术　术语》（英文版） IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    32 页

  • 字数：

    54 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    李香庭 曾毅

  • 起草单位：

    中国科学院上海硅酸盐研究所

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会

  • 提出部门：

    全国微束分析标准化技术委员会

  • 发布部门：

    中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局、中国国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准
  • 国家标准计划

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