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GB/T 4376-1994 半导体集成电路 电压调整器系列和品种 现行 发布日期 :  1994-08-08 实施日期 :  1995-04-01

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GB/T 42676-2023 半导体单晶晶体质量的测试 X射线衍射法 现行 发布日期 :  2023-08-06 实施日期 :  2024-03-01

本文件描述了利用X射线衍射仪测试半导体材料双晶摇摆曲线半高宽,进而评价半导体单晶晶体质量的方法。本文件适用于碳化硅、金刚石、氧化镓等单晶材料晶体质量的测试,硅、砷化镓、磷化铟等半导体材料晶体质量的测试也可参照本文件执行。

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GB/T 43040-2023 半导体集成电路 AC/DC变换器测试方法 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-04-01

本文件描述了半导体集成电路交流到直流(AC/DC)变换器(以下简称器件)参数测试方法。本文件适用于半导体集成电路AC/DC变换器参数的测试。

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GB/T 43136-2023 超硬磨料制品 半导体芯片精密划切用砂轮 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-04-01

本文件规定了半导体芯片精密划切用砂轮的产品分类、产品标记、技术要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存。本文件适用于半导体晶圆芯片精密划片和封装体芯片精密切割用电镀结合剂、树脂结合剂和金属结合剂金刚石砂轮。

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GB/T 7423.3-1987 半导体器件散热器 叉指形散热器 现行 发布日期 :  1987-03-16 实施日期 :  1987-11-01

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GB/T 42970-2023 半导体集成电路 视频编解码电路测试方法 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件描述了半导体集成电路视频编解码(video encoder and decoder)电路中的模拟视频接口类电路(以下简称“器件”)电特性测试方法。
本文件适用于视频编解码电路中的模拟视频接口类电路的测试。

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GB/T 42974-2023 半导体集成电路 快闪存储器(FLASH) 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-01-01

本文件规定了快闪存储器(FLASH)的分类、技术要求、电测试方法和检验规则。
本文件适用于FLASH的设计、制造、采购、验收。

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GB/T 43061-2023 半导体集成电路 PWM控制器测试方法 现行 发布日期 :  2023-09-07 实施日期 :  2024-04-01

本文件描述了半导体集成电路脉冲宽度调制(PWM)控制器(以下简称器件)参数测试方法。本文件适用于半导体集成电路领域中PWM控制器参数的测试。

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GB/T 15649-1995 半导体激光二极管空白详细规范 现行 发布日期 :  1995-07-24 实施日期 :  1996-04-01

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GB/T 15652-1995 金属氧化物半导体气敏元件总规范 现行 发布日期 :  1995-07-24 实施日期 :  1996-04-01

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GB/T 15653-1995 金属氧化物半导体气敏元件测试方法 现行 发布日期 :  1995-07-24 实施日期 :  1996-04-01

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GB/T 5201-2012 带电粒子半导体探测器测量方法 现行 发布日期 :  2012-06-29 实施日期 :  2012-11-01

本标准规定了带电粒子半导体探测器的电特性和核辐射性能的测量方法以及某些特殊环境的试验方法。
本标准适用于带电粒子部分耗尽层的半导体探测器。
全耗尽型半导体探测器的测量可参照本标准执行。

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GB/T 5839-1986 电子管和半导体器件额定值制 现行 发布日期 :  1986-01-29 实施日期 :  1986-12-01

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GB/T 15877-2013 半导体集成电路 蚀刻型双列封装引线框架规范 现行 发布日期 :  2013-12-31 实施日期 :  2014-08-15

本标准规定了半导体集成电路蚀刻型双列封装引线框架(以下简称引线框架)的技术要求和试验方法及检验规则。
本标准适用于半导体集成电路蚀刻型双列(DIP)封装引线框架(镀金及镀银),单列蚀刻型引线框架亦可参照使用。

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GB/T 35007-2018 半导体集成电路 低电压差分信号电路测试方法 现行 发布日期 :  2018-03-15 实施日期 :  2018-08-01

本标准规定了半导体集成电路 低电压差分信号(LVDS,low voltage differential signaling)电路(以下称为“器件”)静态参数、动态参数测试方法的基本原理。本标准适用于低电压差分信号电路静态参数、动态参数的测试。

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