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BS EN 60749-12:2002 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2002-09-10 实施日期 : 

定价: 1405元 / 折扣价: 1195 加购物车

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BS EN 60749-13:2002 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2002-09-17 实施日期 : 

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BS EN 60749-15:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2003-06-19 实施日期 : 

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BS EN 60749-17:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2004-06-29 实施日期 : 

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BS EN 60749-20:2003 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2003-07-07 实施日期 : 

定价: 2434元 / 折扣价: 2069 加购物车

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BS EN 60749-20:2009 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2010-01-31 实施日期 : 

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BS EN 60749-21:2005 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2005-12-05 实施日期 : 

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BS EN 60749-26:2014 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2014-06-30 实施日期 : 

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BS EN 60749-34:2004 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2004-06-22 实施日期 : 

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BS EN 60749-39:2006 Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods 被代替 发布日期 :  2006-12-29 实施日期 : 

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