本文件描述了消费品中六溴环十二烷（α、β、γ-六溴环十二烷)高效液相色谱-质谱测定方法。
本文件适用于含以下材料的消费品（除电子电气产品、纺织品、玩具外)中六溴环十二烷（α、β、γ-六溴环十二烷)的测定：
——塑料；
——橡胶；
——粘合剂、胶水等液体材料。
消费品中其他材质产品经过验证后参照本文件进行测定。

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本文件描述了电感耦合等离子体原子发射光谱(ICPAES)法测定耐火材料中氧化硅、氧化铝、氧化钙、氧化镁等化学成分的分析方法。
本文件适用于硅铝质耐火材料、含锆耐火材料、镁质耐火材料、含碳耐火材料等耐火材料原料及制品。方法的检出限和测定范围见表1。

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本文件描述了硅钼蓝分光光度法、高氯酸脱水重量法、电感耦合等离子体发射光谱法测定二氧化硅含量，铬天青S分光光度法、络合滴定法和电感耦合等离子体发射光谱法测定氧化铝含量。
本文件适用于石灰石、白云石、冶金石灰中二氧化硅、氧化铝含量的测定。硅钼蓝分光光度法，测定范围（质量分数)：二氧化硅含量0.050%~4.00%；高氯酸脱水重量法，测定范围（质量分数)：二氧化硅含量大于2.00%；电感耦合等离子体发射光谱法，测定范围（质量分数)：二氧化硅含量0.070%~3.50%；铬天青S分光光度法，测定范围（质量分数)：氧化铝含量0.010%~0.75%；络合滴定法，测定范围（质量分数)：氧化铝含量大于0.50%；电感耦合等离子体发射光谱法，测定范围（质量分数)：氧化铝含量0.040%~ 1.00%。

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本文件描述了测试增材制造（AM）方法制备的钛合金的局部腐蚀抗力的方法。
本文件适用于增材制造钛合金材料的电化学临界局部腐蚀温度（E-CLCT）测量，用以局部腐蚀抗力的相对评价。

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本文件描述了稀土精矿中稀土氧化物含量和配分量的测定方法。
本文件适用于稀土精矿中稀土氧化物含量和配分量的测定。
本文件包含2 个方法： 电感耦合等离子体发射光谱法(方法1)适用于稀土精矿中稀土氧化物配分量的测定，测定范围见表1。X 射线荧光光谱法(方法2)适用于稀土精矿中稀土氧化物含量的测定，测定范围见表2。

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本文件描述了铜精矿和铜渣精矿中重铬酸钾滴定法测定总铁含量、磁性物分析法测定四氧化三铁含量的方法。
本文件适用于铜精矿和铜渣精矿中总铁和四氧化三铁含量的测定，总铁(质量分数)测定范围为8.00%～42.00%;四氧化三铁(质量分数)测定范围为0.10%～5.0%。
本文件不适用于含单质铁、单质钴、单质镍等磁性物质含量大于0.10%的样品中四氧化三铁的测定。

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本文件详细说明了用标定的均匀掺杂物质（用注入硼的参考物质校准）确定单晶硅中硼的原子浓度的二次离子质谱方法。它适用于均匀掺杂硼浓度范围从1×1016 atoms/cm3～1×1020 atoms/cm3。

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本文件描述了用姜黄素分光光度法测定镍合金中总硼含量的方法。
本文件适用于镍合金中总硼含量的测定。测定范围(质量分数):0.0010%~0.030%。

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本文件描述了在常规分析条件下从特定样品获得的X射线光电子能谱(XPS)数据中评估元素检测限并给出报告的程序。本文件适用于均匀材料，对XPS信息深度内元素深度分布不均匀的材料不适用。

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本文件描述了Na2EDTA滴定法测定铜精矿和铜渣精矿中铅和锌含量的方法。
本文件适用于铜精矿和铜渣精矿中铅和锌含量的测定，测定范围(质量分数):wp65.00%~20.00%;wzn2.50%～20.00%。
本文件不适用于镍质量分数大于0.10%或钴质量分数大于0.02%的铜精矿和铜渣精矿中锌含量的测定。

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本文件描述了消费品中全氟辛烷磺酸（PFOS)和全氟辛酸（PFOA)的液相色谱-串联质谱（LC-MS/MS)测定方法。
本文件适用于含以下材料消费品（除服装、纺织品、皮革、涂料、电子电气、食品接触材料及制品外)中PFOS和PFOA的测定：
——橡胶；
——塑料；
——纸制材料；
——液体及类似黏稠材料（包括粘合剂、清洁剂、泡沫灭火器)。
消费品中其他材质产品经过验证后参照本文件进行测定。

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本文件规定了用于表征AFM探针形状，特别是柄和近尖端轮廓的两种方法。这两种方法分别通过将AFM探针尖轮廓投影到指定平面上，或者在确定的操作条件下将探针柄的特征投影到该平面上来实现。其中，后一种方法可以给出探针用于狭窄沟槽和类似轮廓结构的深度测量时的有效性。本文件适用于半径大于5u0的探针，其中u0是用于表征探针的参考样品脊形结构宽度的不确定度。

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本文件描述了采用气相色谱法测定烟花爆竹烟火药中六氯代苯含量的方法。
本文件适用于烟花爆竹烟火药中六氯代苯含量的测定。

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本文件描述了电感耦合等离子体原子发射光谱法测定镍合金中铌含量的方法。
本文件适用于镍合金中铌含量的测定。测定范围(质量分数)：0.10%~10.00%。

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本文件描述了在单离子计数飞行时间二次离子质谱仪中，通过测量基于聚四氟乙烯（PTFE）质谱中的同位素比值，从而确定强度标线性偏差可接受限的最大计数率的方法。本文件还包括校正强度非线性的方法，强度的非线性是由在死时间内到达微通道板（MCP）或闪烁体和光电倍增器随后进入时间数字转换器（TDC）的二次离子强度损失引起的。该校正可将95％线性的强度范围增加到50倍以上，因此对于那些已证实相关校正公式有效的质谱仪，可以采用更高的最大计数率。

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