1.1　本标准规定了高温合金铸件等轴晶宏观和显微平均晶粒度、柱状晶晶粒度、柱状晶和单晶一次枝晶平均间距、显微疏松的测定方法及结果表示方法。
1.2　本标准适用于普通精密铸造铸件、定向凝固柱晶铸件中晶粒度的测定；定向凝固柱晶和单晶铸件中一次枝晶间距的测定；普通精密铸造铸件、定向凝固柱晶和单晶铸件中显微疏松的测定。
1.3　本标准仅作为推荐性测定方法，不对高温合金铸件验收测试的合格级别范围进行规定。

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本文件描述了用于测量扫描电容显微镜（scanning capacitance microscope，SCM）或扫描扩展电阻显微镜（scanning spreading resistance microscope，SSRM）空间（横向）分辨的方法，该方法涉及使用锐边的器件。这2种显微镜广泛应用于半导体器件的载流子分布成像和其他电学特性的测量。

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本标准规定了应用透射电子显微镜对黄瓜绿斑驳花叶病毒进行形态学检测的技术要求和规范。本标准适用于黄瓜绿斑驳花叶病毒的检验检疫与鉴定。

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GB/T 13835的本部分规定了用投影显微镜法测定兔毛纤维直径的方法。
本部分适用于兔毛纤维直径的测定。

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本标准规定了磁驱动轻敲模式原子力显微镜检测活细胞样品的技术和规范。
本标准适用于使用磁驱动轻敲模式原子力显微镜对活细胞的形貌和物性的检测。

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本文件描述了采用熔融显微镜法测定双组分复合纤维中各组分质量分数的方法。本文件适用于可熔融鉴别的双组分复合纤维及其外观形态未发生改变的纺织制品。注： 对于既能采用化学溶解法又能采用本方法测试的样品，优先采用化学溶解法。

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本文件规定了使用金相照片对硬质合金显微组织测定的方法。

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本文件描述了应用透射电子显微镜/扫描透射电子显微镜（TEM/STEM)技术测定金属材料中纳米级第二相颗粒数密度的方法。
本文件适用于测定金属材料中弥散分布、粒径在几纳米至几十纳米范围的第二相颗粒的数密度。被测颗粒的平均尺寸宜在透射电镜试样厚度的约1/3以下，且试样中的颗粒在透射电镜图像上没有互相重叠或很少重叠。颗粒尺寸不在这个范围的试样可参照执行，其他晶体材料可参照执行。
本方法不适于测定聚集成团的第二相颗粒的数密度。
注1:可测定的最小颗粒尺寸取决于所用TEM/STEM设备的分辨率和采用的实验技术。
注2:待测定的第二相颗粒尺寸通常在5 nm~40 nm范围。
注3:TEM图像上若出现第二相颗粒重叠的情况，将增大颗粒计数的不确定度。

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本文件规定了显微镜盖玻片的材料质量、成品标准和包装方式的要求和试验方法。
本文件适用于在可见光谱范围（400 nm～760 nm）中使用的显微镜盖玻片的设计、制造和应用。

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本文件规定了采集、测量和分析透射电子显微镜(简称“透射电镜”)图像，获得纳米颗粒粒度和形状分布的方法。
本文件适用于纳米物体以及尺寸大于100 nm的颗粒，具体适用范围取决于所需不确定度和透射电子显微镜性能。

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本标准规定了环境扫描电子显微镜检测纳米颗粒与生物样品相互作用的技术和规范。
本标准适用于应用扫描电子显微镜的低真空和环境真空模式，进行纳米颗粒生物效应研究中生物样品形貌的分析（颗粒的范围可扩展至亚微米级和微米级）。

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本文件界定了表面化学分析领域扫描探针显微术方面的术语，并给出了相关缩略语清单(见附录A)。
本文件适用于表面化学分析中扫描探针显微术相关的教学、科研、设计、制造、编写相关技术文件和书刊及技术交流。

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本标准规定了用于AFM检测分析的DNA样品的制备方法,其中包括：方法概要、实验材料和器材、环境条件、云母衬底的修饰、DNA溶液的处理、DNA在衬底上的固定、DNA样品的保存、DNA样品的评价等。本标准适用于制备利用AFM研究单个DNA分子的高分辨成像和纳米操纵实验的、吸附在原子级平整的云母衬底上的各种DNA样品,以及研究其物化性质和生物学功能等。与DNA分子结构相类似的生物材料的固定也可参照本标准。

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GB/T 3488的本部分提供了通过使用光学或电子显微镜的金相检测技术来测量硬质合金晶粒尺寸的方法指南。
本部分适用于以WC为主硬质相的WC/Co硬质合金烧结体(也称为硬质合金或金属陶瓷)，也适用于通过截线法测量晶粒尺寸及其分布。
本部分主要包含以下四个方面：
——显微镜的校准，以确保测量精度；
——线性分析法，以获得足够多具有统计意义的数据；
——分析方法，以计算具有代表性的平均值；
——报告，以符合现代质量报告要求。
本部分通过一个测量案例分析来阐述这项推荐性技术(参见附录A)。
本部分不适用于以下几个方面：
——尺寸分布的测定；
——形状的测定，在实现形状测定之前仍需更深入的研究。
矫顽磁力有时可用于测量晶粒尺寸，但本方法仅涉及金相测定法。本方法适用于硬质合金，并不适用于粉末。然而，本方法原则上也可用于测定可进行镶样、制样粉末的平均尺寸。

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本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。〓〓

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