本文件描述了测量经化学机械抛光或外延生长的硅片上表面元素污染的原子表面密度的TXRF方法。
本文件适用于以下情形：
——原子序数从16（S）到92（U）的元素；
——原子表面密度介于1×1010 atoms/cm2~1×1014 atoms/cm2之间的污染元素；
——采用VPD（气相分解）样品制备方法得到的原子表面密度介于5×108 atoms/cm2~5×1012 atoms/cm2之间的污染元素（见3.4）。

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本标准规定了采用电感耦合等离子体发射光谱(ICP-OES)法测定高纯氧化铝粉体中痕量金属元素含量的方法。
本标准适用于高纯氧化铝粉体（氧化铝含量的质量分数范围在99.9%~99.995%之间）中钙、铬、铜、铁、镧、镁、锰、钠、镍、铅、硅、钛、钒、钇、锌、锆等痕量金属元素含量的测定。各元素的测定范围见表1。

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GB/T 14506的本部分规定了硅酸盐岩石中44个元素量的封闭酸溶电感耦合等离子体质谱（ICP-MS）测定方法。
本部分适用于硅酸盐岩石中锂、铍、钪、钛、钒、锰、钴、镍、铜、锌、镓、砷、铷、锶、钇、锆、铌、钼、镉、铟、铯、钡、镧、铈、镨、钕、钐、铕、钆、铽、镝、钬、铒、铥、镱、镥、铪、钽、钨、铊、铅、铋、钍和铀等44个元素量的测定，也适用于土壤、沉积物样品中上述元素量的测定。
本部分不适用于三氧化二铝含量高于20%的样品中元素量的测定。
测定范围：见附录A。

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This standard specifies a method of the determination of the content of phosphorus, magnesium, iron, aluminum, silicon, calcium, potassium and sodium in phosphate rock and concentrate by X-ray fluorescence spectrometry.

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本标准规定了采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的方法。本标准适用于太阳能级硅材料中痕量元素的测定，其中铁（Fe）、铬（Cr）、镍（Ni）、铜（Cu）、锌（Zn）、硼（B）、磷（P）、钙（Ca）、钠（Na）、镁（Mg）、铝（Al）、砷（As）、钪（Sc）、钛（Ti）、钒（V）、锰（Mn）、钴（Co）、镓（Ga）等元素的测定范围为5 μg/kg～50 mg/kg。本方法适用于分析多种物理形态的以及添加任何种类和浓度掺杂剂的硅材料，例如多晶硅粉末、颗粒、块、锭、片和单晶硅棒、块、片等。

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本标准规定了用金属原位统计分布分析法测定碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍、铜、钛、铌、钼、钒、铝等成分的分布。 本标准适用于测定横截面包含长为30 mm～120　mm，宽为30　mm～120　mm的长方形或正方形区域，高为10 mm～50 mm的块状中低合金钢样品。一般分析面积最大不超过6 400 mm 2，分析长度最大不超过120 mm。各元素质量分数测定范围见表1。

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本文件描述了电感耦合等离子体发射光谱法测定玻璃纤维及原料化学元素的方法。
本文件适用于各类玻璃纤维、纤维玻璃及其原料和配合料、各类矿物棉及其原料化学元素的测定,也适用于化学元素组成类似的其他玻璃和矿物原料化学元素的测定。

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本标准规定了电感耦合等离子质谱法测定玩具材料中可迁移元素锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒的检测方法。
本标准适用于GB 6675规定适用的所有玩具材料中可迁移元素锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒的测定。
本标准方法检出限：内标采用非在线添加的，锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒的方法检出限均为0.25 mg/kg；内标采用在线添加的，锑、砷、钡、镉、铬、铅、汞、硒的方法检出限均为0.05 mg/kg。

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本文件描述了采用电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-AES）测定使用过的和未使用的润滑油和基础油中的添加剂元素、磨损金属以及污染物的方法。
本文件适用于润滑油、基础油和再生基础油中油溶性元素的测定。本文件所测定各元素的质量分数范围和推荐波长见表1。当元素含量不在表1所示范围内时，仍可用本文件所描述的试验过程进行测定，但精密度可能不适用。本文件不适用于含不溶微粒的样品定量分析。注： 分析结果与微粒尺寸有关，如果微粒粒径大于几微米，得到的结果可能会偏低。

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本部分定义了在开放系统互连环境中面向连接方式的希望互连的系统间通信实例规程。本部分包括了用于建立和释放应用联系的核心功能单元。在联系建立期间不增加新的服务时鉴别功能单元可以提供支持鉴别信息的附加的设施。ACSE鉴别设施可以用于支持有限类别的鉴别方法。在联系建立期间应用上下文协商功能单元可以提供附加的设施以选择应用上下文。

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本标准采用辉光放电原子发射光谱法用于定量测定钢表面纳米、亚微米尺度薄膜（金属镀膜和氧化膜）中膜厚、镀层质量（单位面积）和薄膜中的元素深度分布。
本方法适用于测定3 nm~1 000 nm厚度的钢表面薄膜，适用的元素包括：铁、铬、镍、铜、钛、锰、铝、碳、磷、氧、氮和硅。

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本标准规定了用电感耦合等离子发射光谱法（ICP-OES）测定无机化工产品中金属和非金属杂质元素的原理、试剂、仪器、设备、分析步骤、精密度、回收率。
本标准适用于无机化工产品中含多种杂质的液体试样或去除基体后的试液直接进样，用电感耦合等离子体发射光谱仪进行测定。

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