本标准规定了用于AFM检测分析的DNA样品的制备方法,其中包括：方法概要、实验材料和器材、环境条件、云母衬底的修饰、DNA溶液的处理、DNA在衬底上的固定、DNA样品的保存、DNA样品的评价等。本标准适用于制备利用AFM研究单个DNA分子的高分辨成像和纳米操纵实验的、吸附在原子级平整的云母衬底上的各种DNA样品,以及研究其物化性质和生物学功能等。与DNA分子结构相类似的生物材料的固定也可参照本标准。

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GB/T 3488的本部分提供了通过使用光学或电子显微镜的金相检测技术来测量硬质合金晶粒尺寸的方法指南。
本部分适用于以WC为主硬质相的WC/Co硬质合金烧结体(也称为硬质合金或金属陶瓷)，也适用于通过截线法测量晶粒尺寸及其分布。
本部分主要包含以下四个方面：
——显微镜的校准，以确保测量精度；
——线性分析法，以获得足够多具有统计意义的数据；
——分析方法，以计算具有代表性的平均值；
——报告，以符合现代质量报告要求。
本部分通过一个测量案例分析来阐述这项推荐性技术(参见附录A)。
本部分不适用于以下几个方面：
——尺寸分布的测定；
——形状的测定，在实现形状测定之前仍需更深入的研究。
矫顽磁力有时可用于测量晶粒尺寸，但本方法仅涉及金相测定法。本方法适用于硬质合金，并不适用于粉末。然而，本方法原则上也可用于测定可进行镶样、制样粉末的平均尺寸。

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本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜（TEM）或扫描透射电子显微镜（STEM）所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪（EDS）或者电子能量损失谱仪（EELS）所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法（MSS）获得的界面位置。〓〓

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本文件规定了金属及其他无机覆盖层的维氏和努氏显微硬度试验的原理、符号和说明、设备、影响测量准确度的因素、试验程序、结果的不确定度和试验报告。
本文件适用于电沉积覆盖层、自催化覆盖层、喷涂铝的覆盖层和铝阳极氧化膜等多种覆盖层的测定。测定时试验力一般不大于9.807 N(1 kgf)。本文件8.3适用于覆盖层截面的显微硬度测定，8.4适用于覆盖层表面的显微硬度测定。
注1：　GB/T 18449的第1部分～第4部分描述了金属材料努氏硬度试验。GB/T 4340的第1部分～第4部分描述了金属材料维氏硬度试验。GB/T 21838(所有部分）描述了金属材料硬度和材料参数的仪器化压痕试验。
注2：　覆盖层试验力通常选用GB/T 4340.1-2009中显微维氏硬度范围内的试验力。但是，由于宜尽可能选择大的试验力，也可选用GB/T 4340.1-2009中小力值维氏硬度范围内的试验力。

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本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢（其他合金元素质量分数小于2%）中碳含量的校正曲线法。本标准包含试样制备、X射线检测、校正曲线建立以及碳含量检测不确定度的评估。本标准适用于测定碳的质量分数小于1%的钢中碳含量，当含碳量高于1%时检测准确度会受到很大的影响，不适用于本标准。 本标准适用于垂直入射方式和波谱仪，不适用能谱仪。

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本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。

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本文件提供了对电子探针显微分析仪（EPMA）进行常规诊断和实施质量保证程序的指南。仪器操作者定期使用该程序，确认仪器状态正常，或进行故障排查。它涵盖了所需参考物质的特性以及独立检测和全面评估EPMA系统主要组件性能所需的分析程序。
本文件所述分析程序旨在验证仪器对未知样品进行探索性分析、痕量分析和非常规工作（例如峰干扰）的能力，有别于仅用于衍射晶体位置和测试条件检验等单元素快速诊断程序。
本文件适用于电子探针和其他波谱仪（WDS）系统，该系统通过WDS检测到的特征 X 射线谱线进行波长和强度分析实现元素识别和定量分析。本文件不适用于能谱仪（EDS）进行的元素分析。

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本标准规定了采用电子显微镜高角环形暗场成像技术对贵金属纳米颗粒成像的方法。本标准适用于单一贵金属纳米颗粒和复合材料中贵金属纳米颗粒的成像。

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This standard specifies a method of imaging noble metal nanoparticles using high angle annular dark field imaging technique of electron microscope.
This standard is applicable to imaging of noble metal nanoparticles with single-type of element and noble metal nanoparticles in composite materials.

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本文件描述了五种原子力显微术探针悬臂梁法向弹性常数的测量方法，测量的精度误差为5%~10%。每个方法分别隶属于尺寸法、静态实验法和动态实验法三类方法中的一种。方法的选择取决于分析所要达到的目的，便易性及现有的仪器条件。
本文件不适用于高于5%～10%的测量精度，如要获得高于5%~10%的测量精度，需要使用本文件未提及的更高精度的方法进行测量。

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GB/T 19267的本部分规定了显微分光光度的检验方法。 本部分适用于刑事技术领域中的微量物证的理化检验，其他领域亦可参照使用。

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本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。
本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的 TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺，但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜（CD-TEM）和扫描透射电镜（STEM）。

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本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理，术语和定义，仪器和设备，样品制备，测量程序，结果表示以及试验报告等。 本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构（形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系），元素组分，截面及界面原子排布等。

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本标准规定了用傅里叶变换显微红外光谱法识别聚合物层或夹杂物的方法。本标准适用于薄膜表面或者内部的异常微粒或斑点，以及通过复合挤压而成的、用于阻隔膜的不同聚合物层中夹杂物的识别。

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本标准规定了透射电子显微镜X射线能谱仪定量分析生物薄试样的技术要求和规范。 本标准适用于生物薄试样所含非超轻元素的透射电子显微镜X射线能谱定量分析。

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