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本文件规定了金属及其他无机覆盖层的维氏和努氏显微硬度试验的原理、符号和说明、设备、影响测量准确度的因素、试验程序、结果的不确定度和试验报告。
本文件适用于电沉积覆盖层、自催化覆盖层、喷涂铝的覆盖层和铝阳极氧化膜等多种覆盖层的测定。测定时试验力一般不大于9.807 N(1 kgf)。本文件8.3适用于覆盖层截面的显微硬度测定,8.4适用于覆盖层表面的显微硬度测定。
注1: GB/T 18449的第1部分~第4部分描述了金属材料努氏硬度试验。GB/T 4340的第1部分~第4部分描述了金属材料维氏硬度试验。GB/T 21838(所有部分)描述了金属材料硬度和材料参数的仪器化压痕试验。
注2: 覆盖层试验力通常选用GB/T 4340.1-2009中显微维氏硬度范围内的试验力。但是,由于宜尽可能选择大的试验力,也可选用GB/T 4340.1-2009中小力值维氏硬度范围内的试验力。

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本文件描述了五种原子力显微术探针悬臂梁法向弹性常数的测量方法,测量的精度误差为5%~10%。每个方法分别隶属于尺寸法、静态实验法和动态实验法三类方法中的一种。方法的选择取决于分析所要达到的目的,便易性及现有的仪器条件。
本文件不适用于高于5%~10%的测量精度,如要获得高于5%~10%的测量精度,需要使用本文件未提及的更高精度的方法进行测量。

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本文件规定了用层状材料截面像所记录的两种不同材料之间平均界面位置的测定方法。本文件适用于透射电子显微镜(TEM)或扫描透射电子显微镜(STEM)所记录的层状材料截面像和X射线能谱仪(EDS)或者电子能量损失谱仪(EELS)所记录的截面元素面分布图。也适用于由数码相机、电脑存储器和成像板图像传感器所采集的数字像以及胶片记录的模拟像经扫描仪转换的数字像。本文件不适用于测定多层模拟法(MSS)获得的界面位置。〓〓

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本标准规定了用傅里叶变换显微红外光谱法识别聚合物层或夹杂物的方法。本标准适用于薄膜表面或者内部的异常微粒或斑点,以及通过复合挤压而成的、用于阻隔膜的不同聚合物层中夹杂物的识别。

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本标准规定了透射电镜(TEM)在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构,例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或X射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。
本标准适用于记录在照相胶片上或成像板上或数字相机内置传感器采集的 TEM图像的放大倍率。本标准也可用于校准标尺,但不适用于专用的临界尺寸测长透射电镜(CD-TEM)和扫描透射电镜(STEM)。

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GB/T 19267的本部分规定了显微分光光度的检验方法。 本部分适用于刑事技术领域中的微量物证的理化检验,其他领域亦可参照使用。

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本标准规定了采用电子显微镜高角环形暗场成像技术对贵金属纳米颗粒成像的方法。本标准适用于单一贵金属纳米颗粒和复合材料中贵金属纳米颗粒的成像。

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This standard specifies a method of imaging noble metal nanoparticles using high angle annular dark field imaging technique of electron microscope.
This standard is applicable to imaging of noble metal nanoparticles with single-type of element and noble metal nanoparticles in composite materials.

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本标准规定了利用Si(111)晶面原子台阶高度样品校准原子力显微镜z向标度的测量方法。
本标准适用于在大气或真空环境下工作的原子力显微镜,并且其z向放大倍率达到最大量级,即z向位移在纳米和亚纳米范围内,这是原子力显微镜用于检测半导体表面,光学器件表面和其他高科技元件表面中经常用到的检测范围。
本标准并未指出所有可能的安全问题,在应用本标准之前,使用者有责任采取适当的安全和健康措施,并保证符合国家有关法规规定的条件。

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本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理,术语和定义,仪器和设备,样品制备,测量程序,结果表示以及试验报告等。 本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构(形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系),元素组分,截面及界面原子排布等。

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本文件描述了变形铝及铝合金制品显微组织的检验方法。本文件适用于采用光学(金相)显微镜、扫描电子显微镜、透射电子显微镜等仪器,对变形铝及铝合金铸锭(或锭坯)、板、带、箔、管、棒、型、线、锻件及其他加工制品进行显微组织检验。

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本标准规定了用透射电子显微镜(以下简称透射电镜)检测含有碳基纳米材料的生物样品超微结构的技术和规范。
本标准适用于含碳基纳米材料的生物薄试样透射电镜分析检测。

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本标准描述了光学共焦显微镜在宏观或微观三维表面形状测量中的计量特性,并规定了测量不确定度评定的横向和轴向测量结果的示值读取方法。本标准适用于工业测量光学共焦显微镜。

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GB/T 17507-2008 透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的通用技术条件 现行 发布日期 :  2008-06-16 实施日期 :  2009-03-01

本标准规定了透射电子显微镜X射线能谱分析生物薄标样的技术要求、检测条件和检测方法。 本标准适用于生物薄标样的透射电子显微镜X射线能谱分析。

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