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【国家标准】 微束分析　分析电子显微术　金属薄晶体试样中位错密度的测定方法

本网站 发布时间： 2024-04-01
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适用范围：

本文件规定了利用透射电子显微镜（TEM）测量金属薄晶体中位错密度的设备、试样、测定方法、数据处理、测定结果的不确定度和试验报告。本文件适用于测定晶粒内不高于1×1015m-2的位错密度。也适用于测量几十纳米至几百纳米厚度金属薄晶体试样中单个晶粒内的位错密度。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 43088-2023

  • 标准名称：

    微束分析　分析电子显微术　金属薄晶体试样中位错密度的测定方法

  • 英文名称：

    Microbeam analysis—Analytical electron microscopy—Measurement of the dislocation density in thin metals

  • 标准状态：

    现行

  • 发布日期：

    2023-09-07

  • 实施日期：

    2024-04-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    71.040.50

  • 中标分类号：

    G04

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

出版信息

  • 页数：

    28 页

  • 字数：

    48 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    孟杨、鞠新华、朱国森、付新、马通达、崔桂彬、史学星、闫贺、王泽鹏、王雅晴、严春莲

  • 起草单位：

    首钢集团有限公司、国标(北京)检验认证有限公司

  • 归口单位：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 提出部门：

    全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
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  • 推荐标准

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