【团体标准】聚合物导电薄膜方块电阻的测定四探针法

本网站发布时间： 2026-01-13

T/SDAS 1207-2025
现行
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标准简介

适用范围：

本文件规定了采用四探针法测定聚合物导电薄膜方块电阻的术语和定义、测定原理、仪器设备、样品准备、测定步骤、数据处理及试验报告等内容。本文件适用于各种类型的聚合物导电薄膜方块电阻的测定，包括但不限于通过掺杂、复合等方式获得导电性能的聚合物薄膜，或采用特定聚合工艺等方式制备的具有导电性能的聚合物薄膜材料，所测定的方块电阻范围涵盖薄膜实际应用中的典型值。

基本信息

标准号：
T/SDAS 1207-2025
标准名称：
聚合物导电薄膜方块电阻的测定四探针法
英文名称：
标准状态：
现行
发布日期：
2025-10-14
实施日期：
2025-10-29
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
17.220.20
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
王桂龙、柴佳龙、张爱敏、赵国群、刘学栋、孙岩、俞科静、赵近川、王桂振
起草单位：
山东大学、福建鑫瑞新材料科技股份有限公司、中国兵器工业集团第五三研究所（山东非金属材料研究所）、江南大学、海南大学
归口单位：
山东标准化协会
提出部门：
山东标准化协会
发布部门：
山东标准化协会

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