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IEEE P1450 IEEE Approved Draft Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data

【国外标准】 IEEE Approved Draft Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data

本网站发布时间： 2025-06-05

IEEE P1450
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标准简介

适用范围：

This standard defines a test description language that: a) Facilitates the transfer of large volumes of digital test vector data from computer-aided engineering (CAE) environments to automated test equipment (ATE) environments; b) Specifies pattern, format, and timing information sufficient to define the application of digital test vectors to a device under test (DUT); c) Supports the volume of test vector data generated from structured tests such as scan/automatic test pattern generation (ATPG)… read more , integral test techniques such as built-in self test (BIST), and functional test specifications for IC designs and their assemblies, in a format optimized for application in ATE environments. read less

基本信息

标准号：
IEEE P1450
标准名称：
IEEE Approved Draft Standard Test Interface Language (STIL) for Digital Test Vector Data
英文名称：
标准状态：
发布日期：
实施日期：
出版语种：

标准分类号

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出版信息

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