【团体标准】 Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法

本网站发布时间： 2025-05-19

T/CASAS 029-2023
现行
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标准简介

适用范围：

T/CASAS029—2023《Sub-6GHzGaN射频器件微波特性测试方法》描述了Sub-6GHzGaN射频器件微波特性的详细测试方法。本文件适用于共源组成方式的GaN射频器件，其它组成方式仅供参考。制定Sub-6GHzGaN射频器件微波特性的测试方法以及相关规范，对研发生产、性能评估、量产测试和应用评价等具有重要指导意义。

基本信息

标准号：
T/CASAS 029-2023
标准名称：
Sub-6GHz GaN射频器件微波特性测试方法
英文名称：
Test method for microwave characteristics of Sub-6GHz GaN radio-frequency devices
标准状态：
现行
发布日期：
2023-06-30
实施日期：
2023-07-01
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
31.080.01
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
默江辉、吴文刚、王金延、郭跃伟、刘相伍、刘建利、郑雪峰、迟雷、裴轶、徐瑞鹏
起草单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所、北京大学、河北博威集成电路有限公司、北京国联万众半导体科技有限公司、中兴通讯股份有限公司、西安电子科技大学、河北北芯半导体科技有限公司、苏州能讯高能半导体有限公司、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
归口单位：
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
提出部门：
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
发布部门：
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

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