【团体标准】 GaN毫米波前端芯片测试方法

本网站发布时间： 2025-05-19

T/CASAS 030-2023
现行
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标准简介

适用范围：

T/CASAS030—2023《GaN毫米波前端芯片测试方法》描述了GaN毫米波前端芯片的术语、定义、测试条件、测试要求和测试方法，结合了近几年科研人员在毫米波氮化镓前端芯片领域的研发、测试评估以及应用方面的经验总结，对毫米波氮化镓前端芯片性能指标的测试方法进行了详细的规定，包括且不限于测试目的、测试环境、测试方法及步骤、测试工具及仪表等。

基本信息

标准号：
T/CASAS 030-2023
标准名称：
GaN毫米波前端芯片测试方法
英文名称：
Measurement methods on GaN millimeter Wave front-end MMIC
标准状态：
现行
发布日期：
2023-06-30
实施日期：
2023-07-01
出版语种：

标准分类号

标准ICS号：
31.080.01
中标分类号：

关联标准

替代以下标准：
被以下标准替代：
引用标准：
采用标准：

出版信息

页数：
字数：
开本：

其他信息

起草人：
周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏
起草单位：
中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
归口单位：
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
提出部门：
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
发布部门：
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟

其它标准

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