- 您的位置:
- 中国标准在线服务网 >>
- 全部标准分类 >>
- 国家标准 >>
- L50 >>
- GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
【国家标准】 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
本网站 发布时间:
2019-05-01
开通会员免费在线看70000余条国内标准,赠送文本下载次数,单本最低仅合13.3元!还可享标准出版进度查询、定制跟踪推送、标准查新等超多特权!  
查看详情>>
标准号:
GB/T 15651.2-2003
标准名称:
半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性
英文名称:
Discrete semiconductor devices and integrated circuits Part 5-2:Optoelectronic devices Essential ratings and characteristics标准状态:
现行-
发布日期:
2003-11-24 -
实施日期:
2004-08-01 出版语种:
中文简体
- 推荐标准
- GB/T 18310.10-2026 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-10部分:试验 抗挤压和抗负载
- GB/T 18310.23-2025 纤维光学互连器件和无源器件基本试验和测量程序 第2-23部分:试验 非加压式接头盒的密封
- GB/T 18311.47-2026 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-47部分:检查和测量 采用干涉法测量PC/APC球面抛光型插针的端面几何尺寸
- GB/T 45307-2025 光电测量 智能操控类激光雷达主要参数测试方法
- GB/T 18310.1-2002 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-1部分:试验 振动(正弦)
- GB/T 18310.12-2002 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-12部分:试验 撞击
- GB/T 18310.17-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-17部分:试验 低温
- GB/T 18310.18-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-18部分:试验 干热—高温耐久性
- GB/T 18310.2-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-2部分:试验 配接耐久性
- GB/T 18310.21-2002 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-21部分:试验 温度—湿度组合循环试验
- GB/T 18310.42-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-42部分:试验-连接器的静态端部负荷
- GB/T 18310.45-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-45部分:试验-浸水耐久性
- GB/T 18310.48-2007 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-48部分:试验 温度-湿度循环
- GB/T 18310.6-2001 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第2-6部分:试验 锁紧机构抗拉强度
- GB/T 18311.1-2003 纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-1部分:检查和测量 外观检查

我的标准
购物车
400-168-0010








