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【国家标准】 石英晶体元件参数的测量　第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具

本网站 发布时间： 2026-01-26
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适用范围：

本文件规定了适用于IEC 61837（所有部分)定义的无引线表面贴装石英晶体元件的测量夹具。这些测量夹具按照IEC 604445规定的测量技术，测量(串联)谐振频率、(串联)谐振电阻和等效电路参数L1、C1和C0，负载谐振频率和负载谐振电阻是在IEC 60444-4和IEC 60444-11中确定的。

基本信息

  • 标准号：

    GB/T 22319.8-2025

  • 标准名称：

    石英晶体元件参数的测量　第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具

  • 英文名称：

    Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 8:Test fixture for surface mounted quartz crystal units

  • 标准状态：

    即将实施

  • 发布日期：

    2025-12-31

  • 实施日期：

    2026-07-01

  • 出版语种：

    中文简体

标准分类号

  • 标准ICS号：

    31.140

  • 中标分类号：

    L21

关联标准

  • 替代以下标准：

  • 被以下标准替代：

  • 引用标准：

  • 采用标准：

    《石英晶体元件参数的测量　第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具》 IDT 等同采用

出版信息

  • 页数：

    16 页

  • 字数：

    23 千字

  • 开本：

    大16 开

其他信息

  • 起草人：

    杨铁生、宫桂英、孙晓明、高志祥

  • 起草单位：

    唐山国芯晶源电子有限公司、北京晨晶电子有限公司、泰晶科技股份有限公司、南京中电熊猫晶体科技有限公司

  • 归口单位：

    全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会(SAC/TC 182)

  • 提出部门：

    中华人民共和国工业和信息化部

  • 发布部门：

    国家市场监督管理总局、国家标准化管理委员会
  • 其它标准
  • 推荐标准

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